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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Determination of the strain depth profile in solid-phase epitaxially grown SiGe layers using RBS/channeling

  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • Soares, JC
  • da Silva, MF
  • Ballesteros, C;

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 395-399) - 1/1/1998

10.1016/s0168-583x(97)00683-6 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Ion beam analysis of the segregation and solubility of iridium during silicon crystallization

  • Almendra, A
  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • da Silva, MF
  • Soares, JC
  • Ballesteros, C;
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Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 583-586) - 1/1/2002

10.1016/s0168-583x(01)01229-0 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

RBS characterization of iridium silicides formed by RTA in vacuum

  • Rodriguez, T
  • Almendra, A
  • daSilva, MF
  • Soares, JC
  • Wolters, H
  • Rodriguez, A
  • SanzMaudes, J;
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Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 279-283) - 1/1/1996

10.1016/0168-583x(95)01411-x Ver en origen

  • ISSN 0168583X

RES and SIMS study of the simultaneous phase growth of iridium silicides formed by RTA in vacuum

  • Almendra, A
  • Serrano, JJ
  • Kling, A
  • Rodriguez, T
  • Blanco, JM
  • da Silva, MF
  • Sanz-Maudes, J
  • Aguilar, M
  • Soares, JC
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Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 1040-1044) - 1/1/1998

10.1016/s0168-583x(97)00793-3 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

SIMS characterization of thin layers of LR and its silicides

  • Blanco, JM
  • Serrano, JJ
  • JimenezLeube, J
  • Rodriguez, T
  • Aguilar, M
  • Gwilliam, R

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 530-533) - 1/1/1996

10.1016/0168-583x(95)01385-7 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

RBS characterization of the iridium diffusion in silicon

  • Rodriguez, A
  • Gonzalez, C
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • da Silva, MF
  • Soares, JC;

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 663-667) - 1/1/2000

10.1016/s0168-583x(99)00922-2 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Ion beam analysis of the dry thermal oxidation of thin polycrystalline SiGe films

  • Kling, A
  • Soares, JC
  • Prieto, AC
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T;
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Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 405-408) - 1/10/2005

10.1016/j.nimb.2005.06.137 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Effect of thermal annealing on the optical and structural properties of silicon implanted with a high hydrogen fluence

  • Kling, A
  • Soares, JC
  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • Avella, M
  • Jimenez, J;

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 650-652) - 1/1/2006

10.1016/j.nimb.2005.08.087 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Combined grazing incidence RBS and TEM analysis of luminescent nano-SiGe/SiO2 multilayers

  • M.I. Ortiz
  • C. Ballesteros
  • A Kling
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 1397-1401) - 1/4/2008

10.1016/j.nimb.2007.12.096 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Role of the SiO2 buffer layer thickness in the formation of Si/SiO2/nc-Ge/SiO2 structures by dry oxidation

  • Kling, A.
  • Ortiz, M. I.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Jimenez, J.
  • Ballesteros, C.
  • Soares, J. C.;
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Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 306-309) - 1/8/2006

10.1016/j.nimb.2006.04.017 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Thermal properties of group IV nanowires under laser beam excitation

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • C. Prieto
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

9/5/2011

  • iMarina

Formation of Ge nanocristals and evolution of the oxide matrix in annealed LPCVD SiGeO films

  • M.I. Ortiz
  • C Ballesteros
  • B Morana
  • A Kling
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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(p. 0-0) - 29/6/2008

  • iMarina

Raman Spectroscopy of group IV nanostructured semiconductors: influence of size, temperature and stress.

  • O Martínez
  • J. Jiménez
  • A Prieto
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

(p. 0-0) - 1/12/2008

  • iMarina

Production of Cu nanodots by ion sputtering CM on mechanically polished (110) Si-substrates

  • Ballesteros C
  • Rodríguez A
  • Rodríguez T

(p. 174-177) - 8/12/2006

  • iMarina

Group IV nanostructures studied by Raman Spectroscopy

  • O Martínez
  • A.C. Prieto
  • A. Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
  • JIMENEZ LEUBE, FRANCISCO J.
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(p. 0-0) - 8/6/2009

  • iMarina

Crystallization and diffusion of Ge induced by "in-situ" TEM electron beam irradiation of SiGeO films Nanowriting

  • Ortiz M.I.
  • Ballesteros C.
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

(p. 0-0) - 27/7/2009

  • iMarina

SiGe nanowires grown by the VLS method using Ga-Au catalysts

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

1/1/2010

  • iMarina

Raman spectroscopy study of group IV semiconductor nanowires

  • Anaya J
  • Torres A
  • Martín-Martín A
  • Martínez O
  • Prieto A
  • Jiménez J
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
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Raman Spectroscopy Study Of Group Iv Semiconductor Nanowires (p. 78-83) - 17/3/2010

10.1016/j.phpro.2010.10.015 Ver en origen

  • ISSN 18753892

Activation study of boron doped ion beam synthesized Si-Ge

  • Gwilliam R
  • Curello G
  • Sealy B
  • Rodriguez A
  • Botella M
  • Rodriguez T

Proceedings Of The International Conference On Ion Implantation Technology (p. 694-697) - 1/12/1996

  • iMarina

Luminescence in Ge nanostructures formed by dry and wet oxidation of SiGe films

  • Avella M
  • Prieto A
  • Jiménez J
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Kling A
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Proceedings Of Spie - The International Society For Optical Engineering (p. 276-284) - 9/12/2005

10.1117/12.608372 Ver en origen

  • ISSN 0277786X

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03