Herrero Borrell, Jose Manuel jm.herrero.borrell@upm.es
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DEEP-LEVEL SPECTROSCOPY BY TRANSIENT CAPACITANCE TECHNIQUES UNDER ELECTRICAL RESONANCE
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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement (p. 16-18) - 1/1/1984
10.1109/tim.1984.4315143 Ver en origen
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