Aguilar Larrucea, Miguel miguel.aguilar@upm.es

Actividades

Metodología para la recogida selectiva deresiduos en municipios turísticos: caso de zonas costeras

  • J V López Alvarez
  • Aida Fernando de Fuentes
  • Rocío Torrejón
  • A Villazán
  • Miguel Aguilar

Tecno Ambiente: Revista Profesional De Tecnología Y Equipamiento De Ingeniería Ambiental (p. 31-38) - 1/1/2010

  • ISSN 11334665
  • iMarina

Door to door paper collection used in small trade: Developed methodology and application in Leganés (Madrid)

  • López Álvarez J
  • Fernández-Carrión Quero S
  • Jiménez Del Valle A
  • Aguilar Larrucea M

Ingenieria Quimica (p. 78-88) - 1/3/2007

  • ISSN 02102064
  • iMarina

Influence of crystal properties on the absorption IR spectra of polycrystalline AlN thin films

  • Sanz-Hervás, A
  • Iborra, E
  • Clement, M
  • Sangrador, J
  • Aguilar, M

Diamond And Related Materials (p. 1186-1189) - 1/3/2003

10.1016/s0925-9635(02)00228-5 Ver en origen

  • ISSN 09259635

Simulation of SiO2 build-up in silicon under oxygen bombardment

  • Guzmán, B
  • Serrano, JJ
  • Blanco, JM
  • Aguilar, M
  • Arneziane, O

Applied Surface Science (p. 139-142) - 15/1/2003

10.1016/s0169-4332(02)00717-1 Ver en origen

  • ISSN 01694332

Insertion of an electron beam ionizer in a quadrupole spectrometer for secondary neutral mass analysis

  • Ameziane, O
  • Blanco, JM
  • Serrano, JJ
  • Guzmán, B
  • Aguilar, M

European Physical Journal-Applied Physics (p. 231-235) - 1/1/2003

10.1051/epjap:2003032 Ver en origen

  • ISSN 12860042

Angular dependence of the steady-state oxygen surface content in oxygen sputtered silicon at several impact energies

  • Serrano, JJ
  • Guzmán, B
  • Blanco, JM
  • Ameziane, O
  • Aguilar, M

Vacuum (p. 501-505) - 26/9/2002

10.1016/s0042-207x(02)00219-1 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

Influence of strain compensation on structural and electrical properties of InAlAs/InGaAs HEMT structures grown on InP

  • Letartre, X
  • Rojo-Romeo, P
  • Tardy, J
  • Bejar, M
  • Gendry, M
  • Py, MA
  • Beck, M
  • Bühlmann, HJ
  • Ren, L
  • Villar, C
  • Sanz-Hervas, A
  • Serrano, JJ
  • Blanco, JM
  • Aguilar, M
  • Marty, O
  • Soulière, V
  • Monteil, Y
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Japanese Journal Of Applied Physics (p. 1169-1173) - 1/1/1999

10.1143/jjap.38.1169 Ver en origen

  • ISSN 00214922

Growth optimization and doping with Si and Be of high quality GaN on Si(111) by molecular beam epitaxy

  • Sanchez-Garcia, MA
  • Calleja, E
  • Sanchez, FJ
  • Calle, F
  • Monroy, E
  • Basak, D
  • Munoz, E
  • Villar, C
  • Sanz-Hervas, A
  • Aguilar, M
  • Serrano, JJ
  • Blanco, JM
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Journal Of Electronic Materials (p. 276-281) - 1/1/1998

10.1007/s11664-998-0399-2 Ver en origen

  • ISSN 03615235

Growth and characterization of (InSb)m(InP)n short period superlattices

  • Utzmeier T
  • Armelles G
  • Postigo P
  • Briones F
  • Castrillo P
  • Sanz-Hervas A
  • Aguilar M
  • Abril E
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Applied Physics Letters (p. 3017-3019) - 2/6/1997

10.1063/1.118735 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Growth kinetics and morphology of high quality AlN grown on Si(111) by plasma-assisted molecular beam epitaxy

  • Calleja, E
  • SanchezGarcia, MA
  • Monroy, E
  • Sanchez, FJ
  • Munoz, E
  • SanzHervas, A
  • Villar, C
  • Aguilar, M
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Journal Of Applied Physics (p. 4681-4683) - 1/11/1997

10.1063/1.366208 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Optimizing the collection of used paper from small businesses through GIS techniques: The Leganes case (Madrid, Spain)

  • Lopez Alvarez, J V
  • Aguilar Larrucea, M
  • Fernandez-Carrion Quero, S
  • Jimenez del Valle, A

Waste Management (p. 282-293) - 1/1/2008

10.1016/j.wasman.2007.02.036 Ver en origen

  • ISSN 0956053X

Role of argon ion bombardment in sputtered AlN films for SAW devices

  • Iborro, E
  • Clement, M
  • Sangrador, J
  • Sanz-Hervás, A
  • Navarro, AJ
  • Aguilar, M

Proceedings Of The Ieee Ultrasonics Symposium (p. 411-414) - 1/12/2002

10.1109/ultsym.2002.1193431 Ver en origen

  • ISSN 10510117

A QHE system based on a Josephson potentiometer

  • Blanco, JM
  • Balmisa, JM
  • Aguilar, M
  • Coteron, M
  • Raso, F
  • Castejon, P
  • Perez, S
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1998 Conference On Precision Electromagnetic Measurements Digest (p. 347-348) - 27/11/2002

10.1109/cpem.1998.699944 Ver en origen

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Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

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Última actualización de los datos: 1/12/24 12:39