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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY DETERMINATION OF THE REFRACTIVE-INDEX OF STRAINED SI1-XGEX LAYERS IN THE NEAR-INFRARED WAVELENGTH RANGE (0.9-1.7 MU-M)

  • DESANDE, JCG
  • RODRIGUEZ, A
  • RODRIGUEZ, T;

Applied Physics Letters (p. 3402-3404) - 1/1/1995

10.1063/1.114907 Ver en origen

  • ISSN 00036951

SPRAYED SNO2 FILMS - GROWTH-MECHANISM AND FILM STRUCTURE CHARACTERIZATION

  • SANZMAUDES, J
  • RODRIGUEZ, T;

Thin Solid Films (p. 183-189) - 16/6/1980

10.1016/0040-6090(80)90035-8 Ver en origen

  • ISSN 00406090

STRUCTURAL-PROPERTIES OF ELECTRON-BEAM EVAPORATED ZINC-SULFIDE THIN-FILMS

  • ESQUIVIAS, I
  • RECIO, M
  • RODRIGUEZ, T
  • SANZMAUDES, J;

Vacuum (p. 723-725) - 1/1/1989

10.1016/0042-207x(89)90024-9 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

STRUCTURAL-PROPERTIES OF EVAPORATED SILICON FILMS

  • ESQUIVIAS, I
  • SANZMAUDES, J
  • SANGRADOR, J
  • RODRIGUEZ, T;

Journal Of Vacuum Science & Technology a (p. 1791-1796) - 1/1/1985

10.1116/1.573381 Ver en origen

  • ISSN 07342101

Solid phase epitaxy of GexSi1-x films deposited on Si substrates

  • Rodríguez A
  • Esquivias I
  • Rodríguez T

Vacuum (p. 1125-1127) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90043-4 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

Solid-phase crystallization of amorphous SiGe films deposited by LPCVD on SiO2 and glass

  • Olivares, J
  • Rodríguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodríguez, T
  • Ballesteros, C
  • Kling, A

Thin Solid Films (p. 51-54) - 11/1/1999

10.1016/s0040-6090(98)01388-1 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Solid-phase reactions in Ir/(111)Si systems studied by means of x-ray emission spectroscopy

  • Kurmaev, EZ
  • Galakhov, VR
  • Shamin, SN
  • Rodriguez, T
  • Almendra, A
  • Sanz-Maudes, J
  • Goransson, K
  • Engstrom, I;
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Journal Of Materials Research (p. 1950-1955) - 1/1/1998

10.1557/jmr.1998.0274 Ver en origen

  • ISSN 08842914

Strain and defects depth distributions in undoped and boron-doped Si1-xGex layers grown by solid phase epitaxy

  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • Soares, JC
  • daSilva, MF
  • Ballesteros, C;

Journal Of Applied Physics (p. 2887-2895) - 15/9/1997

10.1063/1.366121 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Strain compensation by heavy boron doping in Si1-xGex layers grown by solid phase epitaxy

  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • SanzHervas, A
  • Kling, A
  • Soares, JC
  • daSilva, MF
  • Ballesteros, C
  • Gwilliam, RM;
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Journal Of Materials Research (p. 1698-1705) - 1/1/1997

10.1557/jmr.1997.0234 Ver en origen

  • ISSN 08842914

Strain relaxation mechanisms in Si1-xGex layers grown by solid-phase epitaxy: Influence of the layer composition and growth temperature

  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • Soares, JC
  • Da Silva, MF
  • Ballesteros, C;

Journal Of Electronic Materials (p. 77-82) - 1/1/1999

10.1007/s11664-999-0222-8 Ver en origen

  • ISSN 03615235

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Activation study of boron doped ion beam synthesized Si-Ge

  • Gwilliam R
  • Curello G
  • Sealy B
  • Rodriguez A
  • Botella M
  • Rodriguez T

Proceedings Of The International Conference On Ion Implantation Technology (p. 694-697) - 1/12/1996

  • iMarina

All laser-assisted heteroepitaxial growth of Si0.8Ge0.2 on Si(100)

  • Serna R
  • Afonso C
  • Solis J
  • Ballesteros C
  • Rodriguez T

Conference On Lasers And Electro-Optics Europe - Technical Digest - 1/1/1996

  • iMarina

Analysis of the crystallization kinetics and microstructure of polycrystalline SiGe films by optical techniques

  • Olivares, J
  • Martin, P
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Martinez, O
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 221-226) - 3/12/2000

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Cathodoluminescence study of indented ZnO crystals

  • Mass, Julio
  • Avella, Manuel
  • Jimenez, Juan
  • Rodriguez, Tomas
  • Callahan, Michael
  • Grant, E.
  • Rakes, K.
  • Bliss, David
  • Wang, Buguo;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 95-+) - 1/1/2007

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Controlled fabrication by LPCVD of luminescent SiGe/SiO 2 (LTO) very thin multilayers

  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Avella M
  • Prieto A
  • Jiménez J
  • Ortiz M
  • Ballesteros C
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 77-82) - 1/1/2003

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Crystallization and diffusion of Ge induced by "in-situ" TEM electron beam irradiation of SiGeO films Nanowriting

  • Ortiz M.I.
  • Ballesteros C.
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

(p. 0-0) - 27/7/2009

  • iMarina

Electromagnetic interaction between a laser beam and semiconductor nanowires deposited on different substrates: Raman enhancement in Si Nanowires

  • Julián Anaya
  • Juan Jiménez
  • Carmen Ballesteros
  • Alfredo Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Mrs Online Proceedings Library mrs Proceedings, 1659 issn: 1946-4274 (No Aceptado Por La Aplicación) (p. 1-6) - 1/12/2013

  • iMarina

Enhanced signal micro-raman study of SiGe nanowires and SiGe/Si nanowire axial heterojunctions grown using Au and Ga-Au catalysts

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • C. Prieto
  • C. Ballesteros
  • A. Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 1-6) - 1/1/2015

10.1557/opl.2015.88 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Evolution of the luminescence spectrum during the dry and steam oxidation of SiGe films

  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Prieto, AC
  • Avella, M
  • Jimenez, J;

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 51-56) - 25/8/2005

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Formation of Ge nanocristals and evolution of the oxide matrix in annealed LPCVD SiGeO films

  • M.I. Ortiz
  • C Ballesteros
  • B Morana
  • A Kling
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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(p. 0-0) - 29/6/2008

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03