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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Solid phase epitaxy of GexSi1-x films deposited on Si substrates

  • Rodríguez A
  • Esquivias I
  • Rodríguez T

Vacuum (p. 1125-1127) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90043-4 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

DETERMINATION OF IRIDIUM SILICIDES USING MATRIX EFFECTS IN SIMS

  • BLANCO, JM
  • SERRANO, JJ
  • JIMENEZLEUBE, FJ
  • RODRIGUEZ, T
  • WOLTERS, H

Vacuum (p. 1121-1122) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90041-8 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

STRUCTURAL-PROPERTIES OF ELECTRON-BEAM EVAPORATED ZINC-SULFIDE THIN-FILMS

  • ESQUIVIAS, I
  • RECIO, M
  • RODRIGUEZ, T
  • SANZMAUDES, J;

Vacuum (p. 723-725) - 1/1/1989

10.1016/0042-207x(89)90024-9 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

Solid-phase crystallization of amorphous SiGe films deposited by LPCVD on SiO2 and glass

  • Olivares, J
  • Rodríguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodríguez, T
  • Ballesteros, C
  • Kling, A

Thin Solid Films (p. 51-54) - 11/1/1999

10.1016/s0040-6090(98)01388-1 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Metastable crystalline state induced in amorphous SiGe layers under cw visible laser illumination

  • Martin, E
  • Martin, P
  • Olivares, J
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;
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Thin Solid Films (p. 227-229) - 15/2/2001

10.1016/s0040-6090(00)01609-6 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Lifetime measurements of porous Si1-xGex stain etched

  • Guerrero-Lemus, R
  • Ben-Hander, FA
  • Kenanoglu, A
  • Borchert, D
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Martinez-Duart, JM;
... Ver más Contraer

Thin Solid Films (p. 316-319) - 22/3/2004

10.1016/j.tsf.2003.11.056 Ver en origen

  • ISSN 00406090

ELECTRICAL-PROPERTIES OF EVAPORATED SILICON FILMS

  • SANGRADOR, J
  • ESQUIVIAS, I
  • RODRIGUEZ, T
  • SANZMAUDES, J;

Thin Solid Films (p. 79-86) - 15/3/1985

10.1016/0040-6090(85)90398-0 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Raman spectroscopy study of amorphous SiGe films deposited by low pressure chemical vapor deposition and polycrystalline SiGe films obtained by solid-phase crystallization

  • Olivares, J
  • Martin, P
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;

Thin Solid Films (p. 56-61) - 10/1/2000

10.1016/s0040-6090(99)00711-7 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Structural improvement of SiGe films by C and F implantation and solid phase crystallization

  • Rodriguez, A
  • Olivares, J
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Ballesteros, C
  • Castro, M
  • Gwilliam, RM;
... Ver más Contraer

Thin Solid Films (p. 113-116) - 15/2/2001

10.1016/s0040-6090(00)01624-2 Ver en origen

  • ISSN 00406090

INFLUENCE OF SUBSTRATE-TEMPERATURE ON THE OPTICAL-PROPERTIES OF EVAPORATED SILICON FILMS

  • ESQUIVIAS, I
  • RODRIGUEZ, T
  • SANZMAUDES, J
  • SANGRADOR, J;

Thin Solid Films (p. L35-L37) - 20/4/1984

10.1016/0040-6090(84)90129-9 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Modelling the thermal conductivity of semiconductor NWs; A step forward to the increase of the thermoelectric figure of merit

  • Anaya J
  • Jimenez J
  • Rodriguez T

9th Spanish Conference On Electron Devices, Cde 2013 (p. 219-222) - 8/4/2013

10.1109/cde.2013.6481382 Ver en origen

  • ISSN 9781467346689

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03