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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

RBS characterization of iridium silicides formed by RTA in vacuum

  • Rodriguez, T
  • Almendra, A
  • daSilva, MF
  • Soares, JC
  • Wolters, H
  • Rodriguez, A
  • SanzMaudes, J;
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Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 279-283) - 1/1/1996

10.1016/0168-583x(95)01411-x Ver en origen

  • ISSN 0168583X

All laser-assisted heteroepitaxial growth of Si0.8Ge0.2 on Si(100): Pulsed laser deposition and laser induced melting solidification

  • Serna R
  • Blasco A
  • Missana T
  • Solís J
  • Afonso CN
  • Rodríguez A
  • Rodríguez T
  • Da Silva MF
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Applied Physics Letters (p. 1781-1783) - 1/1/1996

10.1063/1.116665 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Hg1-xCdxTe: electrical and structural changes induced by rapid thermal annealing

  • Sangrador J
  • López-Rubio JA
  • González C
  • Rodríguez T
  • Uzan-Saguy C
  • Ophir-Arad E
  • Kalish R
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Journal Of Crystal Growth (p. 254-260) - 1/6/1995

10.1016/0022-0248(95)00089-5 Ver en origen

  • ISSN 00220248

Interface reaction between Ir films and relaxed SiGe MBE layers by rapid thermal annealing

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Reeson, KJ
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • Almendra, A;
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Journal Of Crystal Growth (p. 236-241) - 2/12/1995

10.1016/0022-0248(95)00410-6 Ver en origen

  • ISSN 00220248

POLYCRYSTALLINE INTERLAYER FORMED BY DEPOSITION OF THIN-FILM IRIDIUM ON SILICON

  • BALLESTEROS, C
  • RODRIGUEZ, T
  • JIMENEZLEUBE, J
  • CLEMENT, M

Journal Of Applied Physics (p. 5173-5175) - 1/12/1995

10.1063/1.359263 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Comparison between furnace and rapid thermal annealed iridium silicide Schottky barrier diodes

  • JimenezLeube, J
  • Clement, M
  • Almendra, A
  • SanzMaudes, J
  • Rodriguez, T

Materials Science And Technology (p. 1215-1218) - 1/11/1995

10.1179/mst.1995.11.11.1215 Ver en origen

  • ISSN 02670836

SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY DETERMINATION OF THE REFRACTIVE-INDEX OF STRAINED SI1-XGEX LAYERS IN THE NEAR-INFRARED WAVELENGTH RANGE (0.9-1.7 MU-M)

  • DESANDE, JCG
  • RODRIGUEZ, A
  • RODRIGUEZ, T;

Applied Physics Letters (p. 3402-3404) - 1/1/1995

10.1063/1.114907 Ver en origen

  • ISSN 00036951

MULTISTEP RAPID THERMAL ANNEALING OF BORON AND INDIUM IMPLANTED HG1-XCDXTE

  • LOPEZRUBIO, JA
  • SANGRADOR, J
  • CLEMENT, M
  • RODRIGUEZ, T

Journal Of Electronic Materials (p. 1245-1249) - 1/11/1994

10.1007/bf02649977 Ver en origen

  • ISSN 03615235

DETERMINATION OF IRIDIUM SILICIDES USING MATRIX EFFECTS IN SIMS

  • BLANCO, JM
  • SERRANO, JJ
  • JIMENEZLEUBE, FJ
  • RODRIGUEZ, T
  • WOLTERS, H

Vacuum (p. 1121-1122) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90041-8 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

Solid phase epitaxy of GexSi1-x films deposited on Si substrates

  • Rodríguez A
  • Esquivias I
  • Rodríguez T

Vacuum (p. 1125-1127) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90043-4 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Enhanced signal micro-raman study of SiGe nanowires and SiGe/Si nanowire axial heterojunctions grown using Au and Ga-Au catalysts

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • C. Prieto
  • C. Ballesteros
  • A. Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 1-6) - 1/1/2015

10.1557/opl.2015.88 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Modelling the thermal conductivity of semiconductor NWs; A step forward to the increase of the thermoelectric figure of merit

  • Anaya J
  • Jimenez J
  • Rodriguez T

9th Spanish Conference On Electron Devices, Cde 2013 (p. 219-222) - 8/4/2013

10.1109/cde.2013.6481382 Ver en origen

  • ISSN 9781467346689

Electromagnetic interaction between a laser beam and semiconductor nanowires deposited on different substrates: Raman enhancement in Si Nanowires

  • Julián Anaya
  • Juan Jiménez
  • Carmen Ballesteros
  • Alfredo Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Mrs Online Proceedings Library mrs Proceedings, 1659 issn: 1946-4274 (No Aceptado Por La Aplicación) (p. 1-6) - 1/12/2013

  • iMarina

Raman spectroscopy in Group IV nanowires and nanowire axial heterostructures

  • Julián Anaya
  • Juan Jiménez
  • Carmen Ballesteros
  • Alfredo Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Mrs Online Proceedings Library mrs Proceedings, 1659 issn: 1946-4274 (No Aceptada Por Aplicación) (p. 143-148) - 1/12/2013

  • iMarina

Interaction between a laser beam and semiconductor nanowires: Application to the Raman spectrum of Si nanowires

  • J. Jiménez
  • J, Anaya
  • C. Prieto
  • A. Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

International Journal Of Nanoparticles (p. 103-112) - 1/1/2013

10.1504/ijnp.2013.054985 Ver en origen

  • ISSN 17532507

SiGe/Si nanowire axial heterostructures grown by LPCVD using Ga-Au

  • J. Jiménez
  • C. Ballesteros
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 13-18) - 1/1/2013

10.1557/opl.2013.273 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Individualization and electrical characterization of SiGe nanowires

  • Manuel Monasterio
  • Carnen Ballesteros
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 37-42) - 20/8/2012

10.1557/opl.2012.33 Ver en origen

  • ISSN 02729172

SiGe nanowires grown by LPCVD using Ga-Au catalysts

  • M. Monasterio
  • Carmen Ballesteros
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 55-60) - 20/8/2012

10.1557/opl.2012.34 Ver en origen

  • ISSN 02729172

MicroRaman Spectroscopy of Si Nanowires: Influence of Size

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • J Souto
  • C. Prieto
  • A. Torres
  • A. Martin-Martin
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Science Forum (p. 255-+) - 1/1/2012

10.4028/www.scientific.net/msf.725.255 Ver en origen

  • ISSN 02555476

Thermal properties of group IV nanowires under laser beam excitation

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • C. Prieto
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

9/5/2011

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03