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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Electromagnetic field enhancement effects in group IV semiconductor nanowires. A Raman spectroscopy approach

  • Pura, J. L.
  • Anaya, J.
  • Souto, J.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Periwal, P.
  • Baron, T.
  • Jimenez, J.;
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Journal Of Applied Physics - 21/3/2018

10.1063/1.5012987 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Local electric field enhancement at the heterojunction of Si/SiGe axially heterostructured nanowires under laser illumination

  • Luis Pura, Jose
  • Anaya, Julian
  • Souto, Jorge
  • Carmelo Prieto, Angel
  • Rodriguez, Andres
  • Rodriguez, Tomas
  • Jimenez, Juan;
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Nanotechnology - 11/10/2016

10.1088/0957-4484/27/45/455709 Ver en origen

  • ISSN 09574484

Predictive Model for the Thermal Conductivity of Rough and Smooth Silicon Nanowires

  • Anaya, J.
  • Rodriguez, T.
  • Jimenez, J.;

Science Of Advanced Materials (p. 1097-1107) - 1/1/2015

10.1166/sam.2015.2154 Ver en origen

  • ISSN 19472935

Raman spectrum of Si nanowires: temperature and phonon confinement effects

  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Hortelano, V.
  • Jimenez, J.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Rogel, R.
  • Pichon, L.;
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Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 1321-1331) - 1/3/2014

10.1007/s00339-013-7966-y Ver en origen

  • ISSN 14320630

Electrical, Photoelectrical and Morphological Properties of ZnO Nanofiber Networks Grown on SiO2 and on Si Nanowires

  • Nadia Celeste Vega
  • Monica Tirado
  • Gareth M. Hughes
  • Fernando Audebert
  • David Comedi
  • Chris R. M. Grovenor
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Research-Ibero-American Journal Of Materials (p. 597-602) - 1/5/2013

10.1590/s1516-14392013005000030 Ver en origen

  • ISSN 15161439

Study of the temperature distribution in Si nanowires under microscopic laser beam excitation

  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Martin-Martin, A.
  • Souto, J.
  • Jimenez, J.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.;
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Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 167-176) - 1/10/2013

10.1007/s00339-012-7509-y Ver en origen

  • ISSN 14320630

Crystallization of Amorphous Si0.6Ge0.4 Nanoparticles Embedded in SiO2: Crystallinity Versus Compositional Stability

  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Prieto, A. C.
  • Jimenez, J.
  • Kling, A.
  • Ballesteros, C.
  • Sangrador, J.;
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Journal Of Electronic Materials (p. 1194-1202) - 1/8/2010

10.1007/s11664-010-1254-9 Ver en origen

  • ISSN 03615235

Ge nanocrystals embedded in a SiO2 matrix obtained from SiGeO films deposited by LPCVD

  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Sangrador, J.
  • Morana, B.
  • Kling, A.
  • Ballesteros, C.;

Semiconductor Science And Technology - 21/4/2010

10.1088/0268-1242/25/4/045032 Ver en origen

  • ISSN 13616641

Micro-Raman spectroscopy of Si nanowires: Influence of diameter and temperature

  • Torres, A.
  • Martin-Martin, A.
  • Martinez, O.
  • Prieto, A. C.
  • Hortelano, V.
  • Jimenez, J.
  • Rodriguez, A.
  • Sangrador, J.
  • Rodriguez, T.;
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Applied Physics Letters - 8/2/2010

10.1063/1.3284647 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Formation of Ge nanocrystals and evolution of the oxide matrix in as-deposited and annealed LPCVD SiGeO films

  • Rodriguez, A.
  • Morana, B.
  • Sangrador, J.
  • Rodriguez, T.
  • Kling, A.
  • Ortiz, M. I.
  • Ballesteros, C.;
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Superlattices And Microstructures (p. 343-348) - 1/4/2009

10.1016/j.spmi.2008.10.037 Ver en origen

  • ISSN 07496036

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Lifetime measurements of stain etched and passivated porous silicon

  • Guerrero-Lemus R
  • Ben-Handen FA
  • Ballif C
  • Kenanoglu A
  • Borchert D
  • Hernández-Rodríguez C
  • Rodríguez T
  • Martínez-Duart JM
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 753-758) - 1/1/2003

10.1557/proc-762-a17.15 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Analysis of the crystallization kinetics and microstructure of polycrystalline SiGe films by optical techniques

  • Olivares, J
  • Martin, P
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Martinez, O
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 221-226) - 3/12/2000

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Influence of the alloy composition on the thermodynamic parameters of nucleation and growth of SiGe

  • Olivares, J
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Martin, P
  • Jimenez, J
  • Ballesteros, C
  • Castro, M;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 147-152) - 1/12/2000

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Activation study of boron doped ion beam synthesized Si-Ge

  • Gwilliam R
  • Curello G
  • Sealy B
  • Rodriguez A
  • Botella M
  • Rodriguez T

Proceedings Of The International Conference On Ion Implantation Technology (p. 694-697) - 1/12/1996

  • iMarina

Iridium silicides formation on high doses Ge+ implanted Si layers

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Wilson, RJ
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • JimenezLeube, J;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 411-416) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Ion beam processed Ir/SiGe structures

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • Clement, M

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 393-398) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Iridium silicides formed by RTA in vacuum

  • Rodriguez, T
  • Almendra, A
  • Botella, M
  • DaSilva, MF
  • Soares, JC
  • Wolters, H
  • Ballesteros, C;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 599-604) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

All laser-assisted heteroepitaxial growth of Si0.8Ge0.2 on Si(100)

  • Serna R
  • Afonso C
  • Solis J
  • Ballesteros C
  • Rodriguez T

Conference On Lasers And Electro-Optics Europe - Technical Digest - 1/1/1996

  • iMarina

INFLUENCE OF OXYGEN ON THE IRIDIUM SILICIDE FORMATION BY RAPID THERMAL ANNEALING

  • FERNANDEZ, M
  • RODRIGUEZ, T
  • ALMENDRA, A
  • JIMENEZLEUBE, J
  • WOLTERS, H;

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 325-328) - 1/1/1994

10.1557/proc-299-325 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Iridium silicide formation by rapid thermal annealing

  • Rodriguez T
  • Wolters H
  • Almendra A
  • Sanz-Maudes J
  • Da Silva M
  • Soares J

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 313-317) - 1/1/1994

10.1557/proc-299-313 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03