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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Solid phase epitaxy of GexSi1-x films deposited on Si substrates

  • Rodríguez A
  • Esquivias I
  • Rodríguez T

Vacuum (p. 1125-1127) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90043-4 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

DETERMINATION OF IRIDIUM SILICIDES USING MATRIX EFFECTS IN SIMS

  • BLANCO, JM
  • SERRANO, JJ
  • JIMENEZLEUBE, FJ
  • RODRIGUEZ, T
  • WOLTERS, H

Vacuum (p. 1121-1122) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90041-8 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

STRUCTURAL-PROPERTIES OF ELECTRON-BEAM EVAPORATED ZINC-SULFIDE THIN-FILMS

  • ESQUIVIAS, I
  • RECIO, M
  • RODRIGUEZ, T
  • SANZMAUDES, J;

Vacuum (p. 723-725) - 1/1/1989

10.1016/0042-207x(89)90024-9 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

Solid-phase crystallization of amorphous SiGe films deposited by LPCVD on SiO2 and glass

  • Olivares, J
  • Rodríguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodríguez, T
  • Ballesteros, C
  • Kling, A

Thin Solid Films (p. 51-54) - 11/1/1999

10.1016/s0040-6090(98)01388-1 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Metastable crystalline state induced in amorphous SiGe layers under cw visible laser illumination

  • Martin, E
  • Martin, P
  • Olivares, J
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;
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Thin Solid Films (p. 227-229) - 15/2/2001

10.1016/s0040-6090(00)01609-6 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Lifetime measurements of porous Si1-xGex stain etched

  • Guerrero-Lemus, R
  • Ben-Hander, FA
  • Kenanoglu, A
  • Borchert, D
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Martinez-Duart, JM;
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Thin Solid Films (p. 316-319) - 22/3/2004

10.1016/j.tsf.2003.11.056 Ver en origen

  • ISSN 00406090

ELECTRICAL-PROPERTIES OF EVAPORATED SILICON FILMS

  • SANGRADOR, J
  • ESQUIVIAS, I
  • RODRIGUEZ, T
  • SANZMAUDES, J;

Thin Solid Films (p. 79-86) - 15/3/1985

10.1016/0040-6090(85)90398-0 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Raman spectroscopy study of amorphous SiGe films deposited by low pressure chemical vapor deposition and polycrystalline SiGe films obtained by solid-phase crystallization

  • Olivares, J
  • Martin, P
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;

Thin Solid Films (p. 56-61) - 10/1/2000

10.1016/s0040-6090(99)00711-7 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Structural improvement of SiGe films by C and F implantation and solid phase crystallization

  • Rodriguez, A
  • Olivares, J
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Ballesteros, C
  • Castro, M
  • Gwilliam, RM;
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Thin Solid Films (p. 113-116) - 15/2/2001

10.1016/s0040-6090(00)01624-2 Ver en origen

  • ISSN 00406090

INFLUENCE OF SUBSTRATE-TEMPERATURE ON THE OPTICAL-PROPERTIES OF EVAPORATED SILICON FILMS

  • ESQUIVIAS, I
  • RODRIGUEZ, T
  • SANZMAUDES, J
  • SANGRADOR, J;

Thin Solid Films (p. L35-L37) - 20/4/1984

10.1016/0040-6090(84)90129-9 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Iridium silicides formation on high doses Ge+ implanted Si layers

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Wilson, RJ
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • JimenezLeube, J;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 411-416) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Ion beam processed Ir/SiGe structures

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • Clement, M

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 393-398) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

INFLUENCE OF OXYGEN ON THE IRIDIUM SILICIDE FORMATION BY RAPID THERMAL ANNEALING

  • FERNANDEZ, M
  • RODRIGUEZ, T
  • ALMENDRA, A
  • JIMENEZLEUBE, J
  • WOLTERS, H;

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 325-328) - 1/1/1994

10.1557/proc-299-325 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Iridium silicide formation by rapid thermal annealing

  • Rodriguez T
  • Wolters H
  • Almendra A
  • Sanz-Maudes J
  • Da Silva M
  • Soares J

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 313-317) - 1/1/1994

10.1557/proc-299-313 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Cathodoluminescence study of indented ZnO crystals

  • Mass, Julio
  • Avella, Manuel
  • Jimenez, Juan
  • Rodriguez, Tomas
  • Callahan, Michael
  • Grant, E.
  • Rakes, K.
  • Bliss, David
  • Wang, Buguo;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 95-+) - 1/1/2007

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Lifetime measurements of stain etched and passivated porous silicon

  • Guerrero-Lemus R
  • Ben-Handen FA
  • Ballif C
  • Kenanoglu A
  • Borchert D
  • Hernández-Rodríguez C
  • Rodríguez T
  • Martínez-Duart JM
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 753-758) - 1/1/2003

10.1557/proc-762-a17.15 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Si 1-xGe x nanocrystals observed by EFTEM: influence of the dry and wet oxidation process

  • Cuadras A
  • Arbiol J
  • Garrido B
  • Morante J
  • Rodriguez A
  • Rodríguez T

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 111-116) - 26/8/2005

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Evolution of the luminescence spectrum during the dry and steam oxidation of SiGe films

  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Prieto, AC
  • Avella, M
  • Jimenez, J;

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 51-56) - 25/8/2005

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Study of the oxidation of polycrystalline SiGe: Formation of Ge nanocrystals and their related luminescence

  • Prieto A
  • Avella M
  • Jiménez J
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Kling A
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 343-348) - 1/1/2005

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Reversible ordering of a-Si1-xGex by the combined effect of light and temperature

  • Martín P
  • Torres A
  • Jiménez J
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 171-176) - 1/1/2004

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03