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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Effects of rapid thermal annealing on the electrical properties of Hg1 − xCdxTe bulk crystals

  • Rubio JAL
  • Sangrador J
  • Rodríguez T

Adv Mater Opt Electr (p. 177-182) - 1/1/1994

10.1002/amo.860030125 Ver en origen

  • ISSN 10579257

Raman spectrum of Si nanowires: temperature and phonon confinement effects

  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Hortelano, V.
  • Jimenez, J.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Rogel, R.
  • Pichon, L.;
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Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 1321-1331) - 1/3/2014

10.1007/s00339-013-7966-y Ver en origen

  • ISSN 14320630

Study of the temperature distribution in Si nanowires under microscopic laser beam excitation

  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Martin-Martin, A.
  • Souto, J.
  • Jimenez, J.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.;
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Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 167-176) - 1/10/2013

10.1007/s00339-012-7509-y Ver en origen

  • ISSN 14320630

All laser-assisted heteroepitaxial growth of Si0.8Ge0.2 on Si(100): Pulsed laser deposition and laser induced melting solidification

  • Serna R
  • Blasco A
  • Missana T
  • Solís J
  • Afonso CN
  • Rodríguez A
  • Rodríguez T
  • Da Silva MF
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Applied Physics Letters (p. 1781-1783) - 1/1/1996

10.1063/1.116665 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Model for crystallization kinetics: Deviations from Kolmogorov-Johnson-Mehl-Avrami kinetics

  • Castro, M
  • Dominguez-Adame, F
  • Sanchez, A
  • Rodriguez, T;

Applied Physics Letters (p. 2205-2207) - 11/10/1999

10.1063/1.124965 Ver en origen

  • ISSN 00036951

SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY DETERMINATION OF THE REFRACTIVE-INDEX OF STRAINED SI1-XGEX LAYERS IN THE NEAR-INFRARED WAVELENGTH RANGE (0.9-1.7 MU-M)

  • DESANDE, JCG
  • RODRIGUEZ, A
  • RODRIGUEZ, T;

Applied Physics Letters (p. 3402-3404) - 1/1/1995

10.1063/1.114907 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Micro-Raman spectroscopy of Si nanowires: Influence of diameter and temperature

  • Torres, A.
  • Martin-Martin, A.
  • Martinez, O.
  • Prieto, A. C.
  • Hortelano, V.
  • Jimenez, J.
  • Rodriguez, A.
  • Sangrador, J.
  • Rodriguez, T.;
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Applied Physics Letters - 8/2/2010

10.1063/1.3284647 Ver en origen

  • ISSN 00036951

GRANULARITY EFFECTS IN TRANSPORT-PROPERTIES OF 123 SUPERCONDUCTING THIN-FILMS

  • LUCIA, ML
  • SANTAMARIA, J
  • HERNANDEZROJAS, JL
  • SANCHEZQUESADA, F
  • IBORRA, E
  • RODRIGUEZ, T;

Journal Of Alloys And Compounds (p. 635-638) - 10/5/1993

10.1016/0925-8388(93)90818-8 Ver en origen

  • ISSN 09258388

Reversible crystallization of a-Si1-xGex alloys under the combined effect of light and temperature

  • Martin, P
  • Torres, A
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T;

Journal Of Applied Physics (p. 155-163) - 1/7/2004

10.1063/1.1755855 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Electromagnetic field enhancement effects in group IV semiconductor nanowires. A Raman spectroscopy approach

  • Pura, J. L.
  • Anaya, J.
  • Souto, J.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Periwal, P.
  • Baron, T.
  • Jimenez, J.;
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Journal Of Applied Physics - 21/3/2018

10.1063/1.5012987 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Cathodoluminescence study of indented ZnO crystals

  • Mass, Julio
  • Avella, Manuel
  • Jimenez, Juan
  • Rodriguez, Tomas
  • Callahan, Michael
  • Grant, E.
  • Rakes, K.
  • Bliss, David
  • Wang, Buguo;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 95-+) - 1/1/2007

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Lifetime measurements of stain etched and passivated porous silicon

  • Guerrero-Lemus R
  • Ben-Handen FA
  • Ballif C
  • Kenanoglu A
  • Borchert D
  • Hernández-Rodríguez C
  • Rodríguez T
  • Martínez-Duart JM
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 753-758) - 1/1/2003

10.1557/proc-762-a17.15 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Nanostructures with group IV nanocrystals obtained by LPCVD and thermal annealing of SiGeO layers

  • Morana B
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Martínez O
  • Jiménez J
  • Kling A
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 193-198) - 1/1/2008

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Raman spectroscopy of group IV nanostructured semiconductors: Influence of size and temperature

  • Torres A
  • Martinez O
  • Prieto C
  • Jimenez J
  • Rodriguez A
  • Sangrador J
  • Rodriguez T
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 57-62) - 1/1/2008

  • ISSN 02729172
  • iMarina

MicroRaman Spectroscopy of Si Nanowires: Influence of Size

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • J Souto
  • C. Prieto
  • A. Torres
  • A. Martin-Martin
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Science Forum (p. 255-+) - 1/1/2012

10.4028/www.scientific.net/msf.725.255 Ver en origen

  • ISSN 02555476

Electromagnetic interaction between a laser beam and semiconductor nanowires deposited on different substrates: Raman enhancement in Si Nanowires

  • Julián Anaya
  • Juan Jiménez
  • Carmen Ballesteros
  • Alfredo Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Mrs Online Proceedings Library mrs Proceedings, 1659 issn: 1946-4274 (No Aceptado Por La Aplicación) (p. 1-6) - 1/12/2013

  • iMarina

Raman spectroscopy in Group IV nanowires and nanowire axial heterostructures

  • Julián Anaya
  • Juan Jiménez
  • Carmen Ballesteros
  • Alfredo Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Mrs Online Proceedings Library mrs Proceedings, 1659 issn: 1946-4274 (No Aceptada Por Aplicación) (p. 143-148) - 1/12/2013

  • iMarina

RBS characterization of the deposition of very thin SiGe/SiO2 multilayers by LPCVD

  • Muñoz-Martín A
  • Climent-Font A
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 395-399) - 1/1/2005

10.1016/j.nimb.2005.06.136 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Si and SixGe1-x NWs studied by Raman spectroscopy

  • O. Martínes
  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • A.C. Prieto
  • A. Torres
  • A. Martin-Martin
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Physica Status Solidi (C) Current Topics In Solid State Physics (p. 1307-1310) - 1/4/2011

10.1002/pssc.201083990 Ver en origen

  • ISSN 18626351

TEM characterization of nanostructures formed from SiGeO films: effect of electron beam irradiation

  • M.I. Ortiz
  • C Ballesteros
  • B. Morana
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Proceeding Of Emc 2008. 14th European Microscopy Congress (p. 467-468) - 1/9/2008

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03