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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Electromagnetic field enhancement effects in group IV semiconductor nanowires. A Raman spectroscopy approach

  • Pura, J. L.
  • Anaya, J.
  • Souto, J.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Periwal, P.
  • Baron, T.
  • Jimenez, J.;
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Journal Of Applied Physics - 21/3/2018

10.1063/1.5012987 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Local electric field enhancement at the heterojunction of Si/SiGe axially heterostructured nanowires under laser illumination

  • Luis Pura, Jose
  • Anaya, Julian
  • Souto, Jorge
  • Carmelo Prieto, Angel
  • Rodriguez, Andres
  • Rodriguez, Tomas
  • Jimenez, Juan;
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Nanotechnology - 11/10/2016

10.1088/0957-4484/27/45/455709 Ver en origen

  • ISSN 09574484

Predictive Model for the Thermal Conductivity of Rough and Smooth Silicon Nanowires

  • Anaya, J.
  • Rodriguez, T.
  • Jimenez, J.;

Science Of Advanced Materials (p. 1097-1107) - 1/1/2015

10.1166/sam.2015.2154 Ver en origen

  • ISSN 19472935

Raman spectrum of Si nanowires: temperature and phonon confinement effects

  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Hortelano, V.
  • Jimenez, J.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Rogel, R.
  • Pichon, L.;
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Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 1321-1331) - 1/3/2014

10.1007/s00339-013-7966-y Ver en origen

  • ISSN 14320630

Electrical, Photoelectrical and Morphological Properties of ZnO Nanofiber Networks Grown on SiO2 and on Si Nanowires

  • Nadia Celeste Vega
  • Monica Tirado
  • Gareth M. Hughes
  • Fernando Audebert
  • David Comedi
  • Chris R. M. Grovenor
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Research-Ibero-American Journal Of Materials (p. 597-602) - 1/5/2013

10.1590/s1516-14392013005000030 Ver en origen

  • ISSN 15161439

Study of the temperature distribution in Si nanowires under microscopic laser beam excitation

  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Martin-Martin, A.
  • Souto, J.
  • Jimenez, J.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.;
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Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 167-176) - 1/10/2013

10.1007/s00339-012-7509-y Ver en origen

  • ISSN 14320630

Crystallization of Amorphous Si0.6Ge0.4 Nanoparticles Embedded in SiO2: Crystallinity Versus Compositional Stability

  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Prieto, A. C.
  • Jimenez, J.
  • Kling, A.
  • Ballesteros, C.
  • Sangrador, J.;
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Journal Of Electronic Materials (p. 1194-1202) - 1/8/2010

10.1007/s11664-010-1254-9 Ver en origen

  • ISSN 03615235

Ge nanocrystals embedded in a SiO2 matrix obtained from SiGeO films deposited by LPCVD

  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Sangrador, J.
  • Morana, B.
  • Kling, A.
  • Ballesteros, C.;

Semiconductor Science And Technology - 21/4/2010

10.1088/0268-1242/25/4/045032 Ver en origen

  • ISSN 13616641

Micro-Raman spectroscopy of Si nanowires: Influence of diameter and temperature

  • Torres, A.
  • Martin-Martin, A.
  • Martinez, O.
  • Prieto, A. C.
  • Hortelano, V.
  • Jimenez, J.
  • Rodriguez, A.
  • Sangrador, J.
  • Rodriguez, T.;
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Applied Physics Letters - 8/2/2010

10.1063/1.3284647 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Formation of Ge nanocrystals and evolution of the oxide matrix in as-deposited and annealed LPCVD SiGeO films

  • Rodriguez, A.
  • Morana, B.
  • Sangrador, J.
  • Rodriguez, T.
  • Kling, A.
  • Ortiz, M. I.
  • Ballesteros, C.;
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Superlattices And Microstructures (p. 343-348) - 1/4/2009

10.1016/j.spmi.2008.10.037 Ver en origen

  • ISSN 07496036

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Si 1-xGe x nanocrystals observed by EFTEM: influence of the dry and wet oxidation process

  • Cuadras A
  • Arbiol J
  • Garrido B
  • Morante J
  • Rodriguez A
  • Rodríguez T

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 111-116) - 26/8/2005

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Evolution of the luminescence spectrum during the dry and steam oxidation of SiGe films

  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Prieto, AC
  • Avella, M
  • Jimenez, J;

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 51-56) - 25/8/2005

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Luminescence in Ge nanostructures formed by dry and wet oxidation of SiGe films

  • Avella M
  • Prieto A
  • Jiménez J
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Kling A
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Proceedings Of Spie - The International Society For Optical Engineering (p. 276-284) - 9/12/2005

10.1117/12.608372 Ver en origen

  • ISSN 0277786X

Study of the oxidation of polycrystalline SiGe: Formation of Ge nanocrystals and their related luminescence

  • Prieto A
  • Avella M
  • Jiménez J
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Kling A
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 343-348) - 1/1/2005

  • ISSN 02729172
  • iMarina

RBS characterization of the deposition of very thin SiGe/SiO2 multilayers by LPCVD

  • Muñoz-Martín A
  • Climent-Font A
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 395-399) - 1/1/2005

10.1016/j.nimb.2005.06.136 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Reversible ordering of a-Si1-xGex by the combined effect of light and temperature

  • Martín P
  • Torres A
  • Jiménez J
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 171-176) - 1/1/2004

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Hydrogenated polycrystalline SiGe films and their application in Thin Film Transistors

  • Rodríguez A
  • Rodríguez T
  • Sangrador J
  • San Andrés E
  • Mártil I

Boletin De La Sociedad Espanola De Ceramica Y Vidrio (p. 386-389) - 1/1/2004

  • ISSN 03663175
  • iMarina

Methods for process time reduction and structural improvement of SiGe films obtained by Solid Phase Crystallization

  • Rodríguez A
  • Rodríguez T
  • Sangrador J
  • Ballesteros C

Boletin De La Sociedad Espanola De Ceramica Y Vidrio (p. 352-356) - 1/1/2004

  • ISSN 03663175
  • iMarina

Formation of SiGe nanoparticles by dry and steam thermal oxidation of thin polycrystalline layers

  • Ortiz M
  • Ballesteros C
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Avella M
  • Martín P
  • Jiménez J
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 511-516) - 25/7/2003

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Controlled fabrication by LPCVD of luminescent SiGe/SiO 2 (LTO) very thin multilayers

  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Avella M
  • Prieto A
  • Jiménez J
  • Ortiz M
  • Ballesteros C
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 77-82) - 1/1/2003

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03