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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Nucleation site location and its influence on the microstructure of solid-phase crystallized SiGe films

  • Rodriguez, AA
  • Rodriguez, T
  • Olivares, J
  • Sangrador, J
  • Martin, P
  • Martinez, O
  • Jimenez, J
  • Ballesteros, C;
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Journal Of Applied Physics (p. 2544-2552) - 1/9/2001

10.1063/1.1389075 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Structural improvement of SiGe films by C and F implantation and solid phase crystallization

  • Rodriguez, A
  • Olivares, J
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Ballesteros, C
  • Castro, M
  • Gwilliam, RM;
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Thin Solid Films (p. 113-116) - 15/2/2001

10.1016/s0040-6090(00)01624-2 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Metastable crystalline state induced in amorphous SiGe layers under cw visible laser illumination

  • Martin, E
  • Martin, P
  • Olivares, J
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;
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Thin Solid Films (p. 227-229) - 15/2/2001

10.1016/s0040-6090(00)01609-6 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Effect of deposition parameters on the characteristics of low-pressure chemical vapor deposited SiGe films grown from Si2H6 and GeH4

  • Olivares, J
  • Sangrador, J
  • Rodríguez, A
  • Rodríguez, T

Journal Of The Electrochemical Society (p. C685-C689) - 1/10/2001

10.1149/1.1399277 Ver en origen

  • ISSN 00134651

A raman study of a metastable crystalline state in amorphous sige layers under cw laser illumination: Influence of the temperature

  • Martin P
  • Olivares J
  • Rodriguez A
  • Sangrador J
  • Jimenez J
  • Rodriguez T

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 387-392) - 1/12/2000

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Raman spectroscopy study of amorphous SiGe films deposited by low pressure chemical vapor deposition and polycrystalline SiGe films obtained by solid-phase crystallization

  • Olivares, J
  • Martin, P
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;

Thin Solid Films (p. 56-61) - 10/1/2000

10.1016/s0040-6090(99)00711-7 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Grain size, grain uniformity, and (111) texture enhancement by solid-phase crystallization of F- and C-implanted SiGe films

  • Rodriguez, A
  • Olivares, J
  • Gonzalez, C
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Ballesteros, C
  • Gwilliam, RM;
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Journal Of Materials Research (p. 1630-1634) - 1/1/2000

10.1557/jmr.2000.0234 Ver en origen

  • ISSN 08842914

RBS characterization of the iridium diffusion in silicon

  • Rodriguez, A
  • Gonzalez, C
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • da Silva, MF
  • Soares, JC;

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 663-667) - 1/1/2000

10.1016/s0168-583x(99)00922-2 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Model for crystallization kinetics: Deviations from Kolmogorov-Johnson-Mehl-Avrami kinetics

  • Castro, M
  • Dominguez-Adame, F
  • Sanchez, A
  • Rodriguez, T;

Applied Physics Letters (p. 2205-2207) - 11/10/1999

10.1063/1.124965 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Solid-phase crystallization of amorphous SiGe films deposited by LPCVD on SiO2 and glass

  • Olivares, J
  • Rodríguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodríguez, T
  • Ballesteros, C
  • Kling, A

Thin Solid Films (p. 51-54) - 11/1/1999

10.1016/s0040-6090(98)01388-1 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Enhanced signal micro-raman study of SiGe nanowires and SiGe/Si nanowire axial heterojunctions grown using Au and Ga-Au catalysts

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • C. Prieto
  • C. Ballesteros
  • A. Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 1-6) - 1/1/2015

10.1557/opl.2015.88 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Modelling the thermal conductivity of semiconductor NWs; A step forward to the increase of the thermoelectric figure of merit

  • Anaya J
  • Jimenez J
  • Rodriguez T

9th Spanish Conference On Electron Devices, Cde 2013 (p. 219-222) - 8/4/2013

10.1109/cde.2013.6481382 Ver en origen

  • ISSN 9781467346689

Electromagnetic interaction between a laser beam and semiconductor nanowires deposited on different substrates: Raman enhancement in Si Nanowires

  • Julián Anaya
  • Juan Jiménez
  • Carmen Ballesteros
  • Alfredo Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Mrs Online Proceedings Library mrs Proceedings, 1659 issn: 1946-4274 (No Aceptado Por La Aplicación) (p. 1-6) - 1/12/2013

  • iMarina

Raman spectroscopy in Group IV nanowires and nanowire axial heterostructures

  • Julián Anaya
  • Juan Jiménez
  • Carmen Ballesteros
  • Alfredo Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Mrs Online Proceedings Library mrs Proceedings, 1659 issn: 1946-4274 (No Aceptada Por Aplicación) (p. 143-148) - 1/12/2013

  • iMarina

Interaction between a laser beam and semiconductor nanowires: Application to the Raman spectrum of Si nanowires

  • J. Jiménez
  • J, Anaya
  • C. Prieto
  • A. Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

International Journal Of Nanoparticles (p. 103-112) - 1/1/2013

10.1504/ijnp.2013.054985 Ver en origen

  • ISSN 17532507

SiGe/Si nanowire axial heterostructures grown by LPCVD using Ga-Au

  • J. Jiménez
  • C. Ballesteros
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 13-18) - 1/1/2013

10.1557/opl.2013.273 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Individualization and electrical characterization of SiGe nanowires

  • Manuel Monasterio
  • Carnen Ballesteros
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 37-42) - 20/8/2012

10.1557/opl.2012.33 Ver en origen

  • ISSN 02729172

SiGe nanowires grown by LPCVD using Ga-Au catalysts

  • M. Monasterio
  • Carmen Ballesteros
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 55-60) - 20/8/2012

10.1557/opl.2012.34 Ver en origen

  • ISSN 02729172

MicroRaman Spectroscopy of Si Nanowires: Influence of Size

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • J Souto
  • C. Prieto
  • A. Torres
  • A. Martin-Martin
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Science Forum (p. 255-+) - 1/1/2012

10.4028/www.scientific.net/msf.725.255 Ver en origen

  • ISSN 02555476

Thermal properties of group IV nanowires under laser beam excitation

  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • C. Prieto
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

9/5/2011

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03