Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

Actividades

Strain and defects depth distributions in undoped and boron-doped Si1-xGex layers grown by solid phase epitaxy

  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • Soares, JC
  • daSilva, MF
  • Ballesteros, C;

Journal Of Applied Physics (p. 2887-2895) - 15/9/1997

10.1063/1.366121 Ver en origen

  • ISSN 00218979

RES and SIMS study of the simultaneous phase growth of iridium silicides formed by RTA in vacuum

  • Almendra, A
  • Serrano, JJ
  • Kling, A
  • Rodriguez, T
  • Blanco, JM
  • da Silva, MF
  • Sanz-Maudes, J
  • Aguilar, M
  • Soares, JC
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Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 1040-1044) - 1/1/1998

10.1016/s0168-583x(97)00793-3 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Determination of the strain depth profile in solid-phase epitaxially grown SiGe layers using RBS/channeling

  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • Soares, JC
  • da Silva, MF
  • Ballesteros, C;

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 395-399) - 1/1/1998

10.1016/s0168-583x(97)00683-6 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Solid-phase reactions in Ir/(111)Si systems studied by means of x-ray emission spectroscopy

  • Kurmaev, EZ
  • Galakhov, VR
  • Shamin, SN
  • Rodriguez, T
  • Almendra, A
  • Sanz-Maudes, J
  • Goransson, K
  • Engstrom, I;
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Journal Of Materials Research (p. 1950-1955) - 1/1/1998

10.1557/jmr.1998.0274 Ver en origen

  • ISSN 08842914

Amorphous SiGe deposition by LPCVD from Si2H4 and GeHt precursors

  • Olivares J
  • Sangrador J
  • Rodriguez A
  • Rodrïguez T

Journal Of Physique Iv (p. Pr8-321-Pr8-325) - 1/1/1999

  • ISSN 11554339
  • iMarina

Strain relaxation mechanisms in Si1-xGex layers grown by solid-phase epitaxy: Influence of the layer composition and growth temperature

  • Rodriguez, A
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • Soares, JC
  • Da Silva, MF
  • Ballesteros, C;

Journal Of Electronic Materials (p. 77-82) - 1/1/1999

10.1007/s11664-999-0222-8 Ver en origen

  • ISSN 03615235

Solid-phase crystallization of amorphous SiGe films deposited by LPCVD on SiO2 and glass

  • Olivares, J
  • Rodríguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodríguez, T
  • Ballesteros, C
  • Kling, A

Thin Solid Films (p. 51-54) - 11/1/1999

10.1016/s0040-6090(98)01388-1 Ver en origen

  • ISSN 00406090

Model for crystallization kinetics: Deviations from Kolmogorov-Johnson-Mehl-Avrami kinetics

  • Castro, M
  • Dominguez-Adame, F
  • Sanchez, A
  • Rodriguez, T;

Applied Physics Letters (p. 2205-2207) - 11/10/1999

10.1063/1.124965 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Grain size, grain uniformity, and (111) texture enhancement by solid-phase crystallization of F- and C-implanted SiGe films

  • Rodriguez, A
  • Olivares, J
  • Gonzalez, C
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Ballesteros, C
  • Gwilliam, RM;
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Journal Of Materials Research (p. 1630-1634) - 1/1/2000

10.1557/jmr.2000.0234 Ver en origen

  • ISSN 08842914

RBS characterization of the iridium diffusion in silicon

  • Rodriguez, A
  • Gonzalez, C
  • Rodriguez, T
  • Kling, A
  • da Silva, MF
  • Soares, JC;

Nuclear Instruments & Methods In Physics Research Section B-Beam Interactions With Materials And Atoms (p. 663-667) - 1/1/2000

10.1016/s0168-583x(99)00922-2 Ver en origen

  • ISSN 0168583X

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Hg1-xCdxTe electrical properties changes induced by Rapid Thermal Annealing

  • Rodríguez T
  • Del Rio J
  • Rubio JAL
  • Sangrador J
  • Van Praet D

Proceedings Of Spie - The International Society For Optical Engineering (p. 202-207) - 7/12/1993

10.1117/12.164944 Ver en origen

  • ISSN 0277786X

INFLUENCE OF OXYGEN ON THE IRIDIUM SILICIDE FORMATION BY RAPID THERMAL ANNEALING

  • FERNANDEZ, M
  • RODRIGUEZ, T
  • ALMENDRA, A
  • JIMENEZLEUBE, J
  • WOLTERS, H;

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 325-328) - 1/1/1994

10.1557/proc-299-325 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Iridium silicide formation by rapid thermal annealing

  • Rodriguez T
  • Wolters H
  • Almendra A
  • Sanz-Maudes J
  • Da Silva M
  • Soares J

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 313-317) - 1/1/1994

10.1557/proc-299-313 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Iridium silicides formation on high doses Ge+ implanted Si layers

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Wilson, RJ
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • JimenezLeube, J;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 411-416) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Ion beam processed Ir/SiGe structures

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • Clement, M

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 393-398) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Iridium silicides formed by RTA in vacuum

  • Rodriguez, T
  • Almendra, A
  • Botella, M
  • DaSilva, MF
  • Soares, JC
  • Wolters, H
  • Ballesteros, C;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 599-604) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

All laser-assisted heteroepitaxial growth of Si0.8Ge0.2 on Si(100)

  • Serna R
  • Afonso C
  • Solis J
  • Ballesteros C
  • Rodriguez T

Conference On Lasers And Electro-Optics Europe - Technical Digest - 1/1/1996

  • iMarina

Activation study of boron doped ion beam synthesized Si-Ge

  • Gwilliam R
  • Curello G
  • Sealy B
  • Rodriguez A
  • Botella M
  • Rodriguez T

Proceedings Of The International Conference On Ion Implantation Technology (p. 694-697) - 1/12/1996

  • iMarina

Influence of the alloy composition on the thermodynamic parameters of nucleation and growth of SiGe

  • Olivares, J
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Martin, P
  • Jimenez, J
  • Ballesteros, C
  • Castro, M;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 147-152) - 1/12/2000

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Analysis of the crystallization kinetics and microstructure of polycrystalline SiGe films by optical techniques

  • Olivares, J
  • Martin, P
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Martinez, O
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 221-226) - 3/12/2000

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03