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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Electromagnetic field enhancement effects in group IV semiconductor nanowires. A Raman spectroscopy approach

  • Pura, J. L.
  • Anaya, J.
  • Souto, J.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Periwal, P.
  • Baron, T.
  • Jimenez, J.;
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Journal Of Applied Physics - 21/3/2018

10.1063/1.5012987 Ver en origen

  • ISSN 00218979

Local electric field enhancement at the heterojunction of Si/SiGe axially heterostructured nanowires under laser illumination

  • Luis Pura, Jose
  • Anaya, Julian
  • Souto, Jorge
  • Carmelo Prieto, Angel
  • Rodriguez, Andres
  • Rodriguez, Tomas
  • Jimenez, Juan;
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Nanotechnology - 11/10/2016

10.1088/0957-4484/27/45/455709 Ver en origen

  • ISSN 09574484

Predictive Model for the Thermal Conductivity of Rough and Smooth Silicon Nanowires

  • Anaya, J.
  • Rodriguez, T.
  • Jimenez, J.;

Science Of Advanced Materials (p. 1097-1107) - 1/1/2015

10.1166/sam.2015.2154 Ver en origen

  • ISSN 19472935

Raman spectrum of Si nanowires: temperature and phonon confinement effects

  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Hortelano, V.
  • Jimenez, J.
  • Prieto, A. C.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Rogel, R.
  • Pichon, L.;
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Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 1321-1331) - 1/3/2014

10.1007/s00339-013-7966-y Ver en origen

  • ISSN 14320630

Electrical, Photoelectrical and Morphological Properties of ZnO Nanofiber Networks Grown on SiO2 and on Si Nanowires

  • Nadia Celeste Vega
  • Monica Tirado
  • Gareth M. Hughes
  • Fernando Audebert
  • David Comedi
  • Chris R. M. Grovenor
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Research-Ibero-American Journal Of Materials (p. 597-602) - 1/5/2013

10.1590/s1516-14392013005000030 Ver en origen

  • ISSN 15161439

Study of the temperature distribution in Si nanowires under microscopic laser beam excitation

  • Anaya, J.
  • Torres, A.
  • Martin-Martin, A.
  • Souto, J.
  • Jimenez, J.
  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.;
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Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 167-176) - 1/10/2013

10.1007/s00339-012-7509-y Ver en origen

  • ISSN 14320630

Crystallization of Amorphous Si0.6Ge0.4 Nanoparticles Embedded in SiO2: Crystallinity Versus Compositional Stability

  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Prieto, A. C.
  • Jimenez, J.
  • Kling, A.
  • Ballesteros, C.
  • Sangrador, J.;
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Journal Of Electronic Materials (p. 1194-1202) - 1/8/2010

10.1007/s11664-010-1254-9 Ver en origen

  • ISSN 03615235

Ge nanocrystals embedded in a SiO2 matrix obtained from SiGeO films deposited by LPCVD

  • Rodriguez, A.
  • Rodriguez, T.
  • Sangrador, J.
  • Morana, B.
  • Kling, A.
  • Ballesteros, C.;

Semiconductor Science And Technology - 21/4/2010

10.1088/0268-1242/25/4/045032 Ver en origen

  • ISSN 13616641

Micro-Raman spectroscopy of Si nanowires: Influence of diameter and temperature

  • Torres, A.
  • Martin-Martin, A.
  • Martinez, O.
  • Prieto, A. C.
  • Hortelano, V.
  • Jimenez, J.
  • Rodriguez, A.
  • Sangrador, J.
  • Rodriguez, T.;
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Applied Physics Letters - 8/2/2010

10.1063/1.3284647 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Formation of Ge nanocrystals and evolution of the oxide matrix in as-deposited and annealed LPCVD SiGeO films

  • Rodriguez, A.
  • Morana, B.
  • Sangrador, J.
  • Rodriguez, T.
  • Kling, A.
  • Ortiz, M. I.
  • Ballesteros, C.;
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Superlattices And Microstructures (p. 343-348) - 1/4/2009

10.1016/j.spmi.2008.10.037 Ver en origen

  • ISSN 07496036

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Si and SixGe1-x NWs studied by Raman spectroscopy

  • O. Martínes
  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • A.C. Prieto
  • A. Torres
  • A. Martin-Martin
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Physica Status Solidi (C) Current Topics In Solid State Physics (p. 1307-1310) - 1/4/2011

10.1002/pssc.201083990 Ver en origen

  • ISSN 18626351

Raman spectrum of group IV nanowires: Influence of temperature

  • J. Souto
  • J. Jiménez
  • J. Anaya
  • C. Prieto
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 105-110) - 1/12/2011

10.1557/opl.2011.619 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Laser induced heating of group IV nanowires

  • Juan Jiménez
  • J. Anaya
  • A. Torres
  • A. Martin-Martin
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 62-67) - 1/12/2011

10.1557/opl.2012.344 Ver en origen

  • ISSN 02729172

SiGe nanowires grown by LPCVD: morphological and structural study

  • Juan Jiménez
  • Carmen Ballesteros
  • A. C. Prieto
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Low-Dimensional Functional Nanostructures-Fabrication, Characterization And Applications. Materials Research Society Symposium Proceedings 1258 (p. 1-6) - 5/4/2010

  • iMarina

Raman spectroscopy study of group IV semiconductor nanowires

  • Anaya J
  • Torres A
  • Martín-Martín A
  • Martínez O
  • Prieto A
  • Jiménez J
  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
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Raman Spectroscopy Study Of Group Iv Semiconductor Nanowires (p. 78-83) - 17/3/2010

10.1016/j.phpro.2010.10.015 Ver en origen

  • ISSN 18753892

SiGe nanowires grown by LPCVD: Morphological and structural analysis

  • Rodríguez A
  • Sangrador J
  • Rodríguez T
  • Ballesteros C
  • Prieto A
  • Jiménez J

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 47-52) - 1/12/2010

  • ISSN 02729172
  • iMarina

SiGe nanowires grown by the VLS method using Ga-Au catalysts

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

1/1/2010

  • iMarina

Crystallization and diffusion of Ge induced by "in-situ" TEM electron beam irradiation of SiGeO films Nanowriting

  • Ortiz M.I.
  • Ballesteros C.
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

(p. 0-0) - 27/7/2009

  • iMarina

Group IV nanostructures studied by Raman Spectroscopy

  • O Martínez
  • A.C. Prieto
  • A. Torres
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES
  • JIMENEZ LEUBE, FRANCISCO J.
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(p. 0-0) - 8/6/2009

  • iMarina

TEM characterization of nanostructures formed from SiGeO films: effect of electron beam irradiation

  • M.I. Ortiz
  • C Ballesteros
  • B. Morana
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES

Proceeding Of Emc 2008. 14th European Microscopy Congress (p. 467-468) - 1/9/2008

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03