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Rodriguez Rodriguez, Tomas tomas.rodriguezr@upm.es

INGENIERÍA ELECTRÓNICA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

PHOTO-INDUCED ELECTRICAL DEFECTS IN LOW-TEMPERATURE PHOTOCHEMICAL VAPOR-DEPOSITED SILICON-NITRIDE FILMS

  • IBORRA, E
  • LOPEZRUBIO, JA
  • ESQUIVIAS, I
  • SANZMAUDES, J
  • RODRIGUEZ, T;

Journal Of Applied Physics (p. 1617-1620) - 1/2/1990

10.1063/1.345627 Ver en origen

  • ISSN 00218979

NUMERICAL DESCRIPTION OF THE PHASE-DIAGRAM OF THE HG-CD-TE SYSTEM IN THE TE-RICH CORNER

  • SANZMAUDES, J
  • SANGRADOR, J
  • RODRIGUEZ, T;

Journal Of Crystal Growth (p. 1065-1068) - 1/6/1990

10.1016/0022-0248(90)90876-m Ver en origen

  • ISSN 00220248

HIGH-SENSITIVITY BOLOMETERS DEVELOPMENT

  • IBORRA, E
  • SANZHERVAS, A
  • RODRIGUEZ, T
  • OCHANDO, MA
  • NAVARRO, AP;

Review Of Scientific Instruments (p. 4708-4710) - 1/12/1992

10.1063/1.1143614 Ver en origen

  • ISSN 00346748

A NEW DESIGN OF A SEMICONDUCTOR BOLOMETER ON RIGID SUBSTRATE FOR FUSION PLASMA DIAGNOSTICS

  • IBORRA, E
  • SANZHERVAS, A
  • RODRIGUEZ, T;

Review Of Scientific Instruments (p. 1714-1717) - 1/12/1993

10.1063/1.1143998 Ver en origen

  • ISSN 00346748

GRANULARITY EFFECTS IN TRANSPORT-PROPERTIES OF 123 SUPERCONDUCTING THIN-FILMS

  • LUCIA, ML
  • SANTAMARIA, J
  • HERNANDEZROJAS, JL
  • SANCHEZQUESADA, F
  • IBORRA, E
  • RODRIGUEZ, T;

Journal Of Alloys And Compounds (p. 635-638) - 10/5/1993

10.1016/0925-8388(93)90818-8 Ver en origen

  • ISSN 09258388

DETERMINATION OF IRIDIUM SILICIDES USING MATRIX EFFECTS IN SIMS

  • BLANCO, JM
  • SERRANO, JJ
  • JIMENEZLEUBE, FJ
  • RODRIGUEZ, T
  • WOLTERS, H

Vacuum (p. 1121-1122) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90041-8 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

Solid phase epitaxy of GexSi1-x films deposited on Si substrates

  • Rodríguez A
  • Esquivias I
  • Rodríguez T

Vacuum (p. 1125-1127) - 1/1/1994

10.1016/0042-207x(94)90043-4 Ver en origen

  • ISSN 0042207X

Effects of rapid thermal annealing on the electrical properties of Hg1 − xCdxTe bulk crystals

  • Rubio JAL
  • Sangrador J
  • Rodríguez T

Adv Mater Opt Electr (p. 177-182) - 1/1/1994

10.1002/amo.860030125 Ver en origen

  • ISSN 10579257

MULTISTEP RAPID THERMAL ANNEALING OF BORON AND INDIUM IMPLANTED HG1-XCDXTE

  • LOPEZRUBIO, JA
  • SANGRADOR, J
  • CLEMENT, M
  • RODRIGUEZ, T

Journal Of Electronic Materials (p. 1245-1249) - 1/11/1994

10.1007/bf02649977 Ver en origen

  • ISSN 03615235

SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY DETERMINATION OF THE REFRACTIVE-INDEX OF STRAINED SI1-XGEX LAYERS IN THE NEAR-INFRARED WAVELENGTH RANGE (0.9-1.7 MU-M)

  • DESANDE, JCG
  • RODRIGUEZ, A
  • RODRIGUEZ, T;

Applied Physics Letters (p. 3402-3404) - 1/1/1995

10.1063/1.114907 Ver en origen

  • ISSN 00036951

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Hg1-xCdxTe electrical properties changes induced by Rapid Thermal Annealing

  • Rodríguez T
  • Del Rio J
  • Rubio JAL
  • Sangrador J
  • Van Praet D

Proceedings Of Spie - The International Society For Optical Engineering (p. 202-207) - 7/12/1993

10.1117/12.164944 Ver en origen

  • ISSN 0277786X

INFLUENCE OF OXYGEN ON THE IRIDIUM SILICIDE FORMATION BY RAPID THERMAL ANNEALING

  • FERNANDEZ, M
  • RODRIGUEZ, T
  • ALMENDRA, A
  • JIMENEZLEUBE, J
  • WOLTERS, H;

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 325-328) - 1/1/1994

10.1557/proc-299-325 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Iridium silicide formation by rapid thermal annealing

  • Rodriguez T
  • Wolters H
  • Almendra A
  • Sanz-Maudes J
  • Da Silva M
  • Soares J

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 313-317) - 1/1/1994

10.1557/proc-299-313 Ver en origen

  • ISSN 02729172

Iridium silicides formation on high doses Ge+ implanted Si layers

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Wilson, RJ
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • JimenezLeube, J;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 411-416) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Ion beam processed Ir/SiGe structures

  • Curello, G
  • Gwilliam, R
  • Harry, M
  • Sealy, BJ
  • Rodriguez, T
  • Clement, M

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 393-398) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Iridium silicides formed by RTA in vacuum

  • Rodriguez, T
  • Almendra, A
  • Botella, M
  • DaSilva, MF
  • Soares, JC
  • Wolters, H
  • Ballesteros, C;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 599-604) - 1/1/1996

  • ISSN 02729172
  • iMarina

All laser-assisted heteroepitaxial growth of Si0.8Ge0.2 on Si(100)

  • Serna R
  • Afonso C
  • Solis J
  • Ballesteros C
  • Rodriguez T

Conference On Lasers And Electro-Optics Europe - Technical Digest - 1/1/1996

  • iMarina

Activation study of boron doped ion beam synthesized Si-Ge

  • Gwilliam R
  • Curello G
  • Sealy B
  • Rodriguez A
  • Botella M
  • Rodriguez T

Proceedings Of The International Conference On Ion Implantation Technology (p. 694-697) - 1/12/1996

  • iMarina

Influence of the alloy composition on the thermodynamic parameters of nucleation and growth of SiGe

  • Olivares, J
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Rodriguez, T
  • Martin, P
  • Jimenez, J
  • Ballesteros, C
  • Castro, M;
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Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 147-152) - 1/12/2000

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Analysis of the crystallization kinetics and microstructure of polycrystalline SiGe films by optical techniques

  • Olivares, J
  • Martin, P
  • Rodriguez, A
  • Sangrador, J
  • Martinez, O
  • Jimenez, J
  • Rodriguez, T;
... Ver más Contraer

Materials Research Society Symposium - Proceedings (p. 221-226) - 3/12/2000

  • ISSN 02729172
  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Nuevos enfoques para el crecimiento de nanohilos de SiGe modulados en composición orientados a nuevos nanodispositivos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-10-2007 - 30-12-2010

Tipo: Nacional

  • iMarina

Crecimiento y caracterización de heteroestructuras de nanohilos de SiGe: aspectos eléctricos y térmicos

  • BALLESTEROS PEREZ, CARMEN INES (Participante)
  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Participante)
  • SANGRADOR GARCIA, JESUS (Participante)
  • RODRIGUEZ DOMINGUEZ, ANDRES (Investigador principal (IP))

Ejecución: 01-01-2011 - 31-12-2014

Tipo: Nacional

Importe financiado: 60500,00 Euros.

  • iMarina

Caracterización de capas delgadas de silicio obtenidas mediante evaporación con haz de electrones.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: ESQUIVIAS MOSCARDO, Ignacio

1/1/1984

  • iMarina

Crecimiento de capas dopadas tipo p de SiGe sobre Si mediante epitaxia en fase sólida para su aplicación en la fabricación de detectores de infrarrojo lejano

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: RODRIGUEZ DOMINGUEZ, Andrés

13/1/1997

  • iMarina

Obtención de películas policristalinas de silicio-germanio por cristalización en fase sólida a baja temperatura.

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: OLIVARES ROZA, Jimena

1/1/2001

  • iMarina

Cinética de crecimiento de Siliciuro de Iridio mediante RTP

  • RODRIGUEZ RODRIGUEZ, Tomás (Director) Doctorando: Almendra Sánchez, Alberto

4/12/2001

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 18/03/24 11:03