Arranz De Gustin, Antonio antonio.arranz@uam.es
Actividades
- Artículos 53
- Libros 0
- Capítulos de libro 3
- Congresos 34
- Documentos de trabajo 0
- Informes técnicos 0
- Proyectos de investigación 17
- Tesis dirigidas 0
- Patentes o licencias de software 0
Chromium silicide formation by argon irradiation of Cr/Si bilayers
- Palacio, C.
- Arranz, A.;
Journal Of Physics D-Applied Physics - 7/2/2008
10.1088/0022-3727/41/3/035301 Ver en origen
- ISSN 00223727
The application of ITTFA and ARXPS to study the ion beam mixing ofmetal/Si bilayers
- Palacio, C.
- Arranz, A.;
Surface And Interface Analysis (p. 676-682) - 1/3/2008
10.1002/sia.2683 Ver en origen
- ISSN 01422421
Reactive ion beam mixing of V/Si interfaces by low energy N-2(+)bombardment
- Palacio, C.
- Arranz, A.;
Surface Science (p. 1826-1829) - 15/5/2008
10.1016/j.susc.2008.03.019 Ver en origen
- ISSN 00396028
Influence of surface hydroxylation on 3-aminopropyltriethoxysilanegrowth mode during chemical functionalization of GaN surfaces: Anangle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy study
- Arranz A, Palacio C, García-Fresnadillo D, Orellana G, Navarro A, Muñoz E
Langmuir (p. 8667-8671) - 19/8/2008
10.1021/la801259n Ver en origen
- ISSN 15205827
The formation of V-Al-N thin films by reactive ion beam mixing of V/Alinterfaces
- Arranz, A.
- Palacio, C.;
Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 217-224) - 1/10/2009
10.1007/s00339-009-5181-7 Ver en origen
- ISSN 14320630
Low-energy Ar+ ion-beam induced vanadium silicide formation at V/Siinterfaces
- Arranz, A.
- Palacio, C.;
Thin Solid Films (p. 2656-2660) - 27/2/2009
10.1016/j.tsf.2008.10.052 Ver en origen
- ISSN 00406090
Microsensors Based on GaN Semiconductors Covalently Functionalized withLuminescent Ru(II) Complexes
- López-Gejo J, Arranz A, Navarro A, Palacio C, Muñoz E, Orellana G
Journal Of The American Chemical Society (p. 1746-+) - 1/3/2010
10.1021/ja908848c Ver en origen
- ISSN 00027863
Direct Grafting of Long-Lived Luminescent Indicator Dyes to GaNLight-Emitting Diodes for Chemical Microsensor Development
- López-Gejo J, Navarro-Tobar Á, Arranz A, Palacio C, Muñoz E, Orellana G
Acs Applied Materials & Interfaces (p. 3846-3854) - 26/10/2011
10.1021/am2010509 Ver en origen
- ISSN 19448244
Nanoscale modification of Ni/Al interfaces by low-energy O-2(+) reactiveion beam mixing
- Arranz, A.
- Palacio, C.;
Applied Physics A-Materials Science & Processing (p. 309-316) - 1/5/2011
10.1007/s00339-010-6104-3 Ver en origen
- ISSN 14320630
Este/a investigador/a no tiene libros.
Espectroscopía Auger (AES).
- Palacio Orcajo, Carlos
- Arranz de Gustin, Antonio
Ii Curso De Ciencia E Ingeniería De La Superficie De Los Materiales Metálicos. Cenim/Csic. (p. 469-479) - 1/1/1996
- iMarina
Espectroscopía de electrones Auger.
- Palacio Orcajo, Carlos
- Arranz de Gustin, Antonio
Ciencia E Ingeniería De La Superficie De Los Materiales Metálicos. Colección Textos Universitarios, Nº 31 (p. 587-602) - 1/1/2000
- iMarina
Spectroscopic multitechnique approach to characterise the oxidation of metals and intermetallic compounds.
- Arranz de Gustin, Antonio
- Palacio Orcajo, Carlos
Recent Research Developments In Vacuum Science & Technology”, 4th Volume. Transworld Research Network Publisher. (p. 173-189) - 1/1/2003
- ISBN 8178950677
- iMarina
The influence of nitrogen in Ta films on the oxidation of tantalum.
- Palacio Orcajo, Carlos
- Arranz de Gustin, Antonio
- Martinez Duart, Jose Manuel
4th European conference on Applications of Surface and Interface Analysis: ECASIA 91. - 1/10/1991
- iMarina
The use of factor analysis for solving analytical problems in AES and XPS: performance and limitations.
- Arranz de Gustin, Antonio
- Palacio Orcajo, Carlos
5th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis: ECASIA 93. - 1/10/1993
- iMarina
Application of AES and EELS to the study of oxidation and electronic structure of Ti and TiN
- Palacio Orcajo, Carlos
- Arranz de Gustin, Antonio
5th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis: ECASIA 93. - 1/10/1993
- iMarina
Surface reactivity of tantalum and tantalum nitride thin films.
- Arranz de Gustin, Antonio
- Palacio Orcajo, Carlos
II Reunión Ibérica del Vacío y sus Aplicaciones + 1st European Topical Conference on Hard Coatings: II RIVA + ETCHC-1. - 1/7/1993
- iMarina
Factor analysis: A useful tool for solving analytical problems in AES and XPS: A study of the performances and limitations of the indicator function
- ARRANZ, A
- PALACIO, C;
Surface And Interface Analysis (p. 93-97) - 1/1/1994
10.1002/sia.740220123 Ver en origen
- ISSN 01422421
Electrocatálisis: su relevancia en la resolución de problemas energéticos y medioambientales
- Arranz de Gustin, Antonio
1/5/1994
- iMarina
Identification of the chemical species formed during the oxidation of polycrystalline aluminum
- Arranz de Gustin, Antonio
- Palacio Orcajo, Carlos
6th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis: ECASIA 95. - 1/10/1995
- iMarina
Surface characterization of aluminum nitride thin films formed by nitrogen implantation
- Arranz A., Palacio C.
Vide-Science Technique Et Applications (p. 134-136) - 1/1/1996
- ISSN 12660167
- iMarina
Study of the interface formation in the Ni-Al system
- Arranz de Gustin, Antonio
- Palacio Orcajo, Carlos
10th International Conference on Thin Films and 5th European Vacuum Conference: ICTF-10/EVC-5. - 1/10/1996
- iMarina
Quantitative depth profiling of nitrogen.implanted aluminum by use of angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy.
- Palacio Orcajo, Carlos
- Arranz de Gustin, Antonio
10th International Conference on Thin Films and 5th European Vacuum Conference: ICTF-10/EVC-5. - 1/10/1996
- iMarina
Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.
Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.
Iniciación al estudio de la formación de intercaras en materiales compuestos.
- Climent Font, Aurelio (Investigador/a)
- Palacio Orcajo, Carlos (Investigador principal (IP))
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador/a)
Ejecución: 01-01-1993 - 31-12-1993
- iMarina
Resonant photoemission in 4d and 5d Transition-metal series.
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador/a)
Ejecución: 01-01-1993 - 31-12-1993
- iMarina
Un estudio in-situ por técnicas de análisis superficial de la formación de intercaras en materiales compuestos resistentes a la corrosión.
- Climent Font, Aurelio (Investigador/a)
- Palacio Orcajo, Carlos (Investigador principal (IP))
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador/a)
Ejecución: 10-01-1994 - 30-09-1997
- iMarina
Estudio mediante técnicas de análisis superficial, de la formación y crecimiento de intercaras en estructuras multicapas de nitruros de metales.
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador/a)
Ejecución: 10-01-1999 - 09-06-2002
- iMarina
Preparación y caracterización de depósitos de Ag sobre Pt
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador/a)
- Palacio Orcajo, Carlos (Investigador principal (IP))
- Ocon Esteban, Pilar (Investigador/a)
Ejecución: 01-01-2001 - 31-12-2002
- iMarina
Electronic structure of tantalum oxide and tantalum nitride by resonant photoemission.
- Palacio Orcajo, Carlos (Investigador principal (IP))
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador/a)
Ejecución: 01-01-2001 - 31-12-2001
- iMarina
Electronic characterization of nanostructured Fe-Al alloys and Fe-Al oxides.
- Palacio Orcajo, Carlos (Investigador/a)
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador principal (IP))
Ejecución: 01-01-2001 - 21-12-2001
- iMarina
Growth, electronic properties and thermal stability of Ti/Al2O3 and Ti/Si3N4 interfaces.
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador principal (IP))
Ejecución: 01-01-2002 - 31-12-2002
- iMarina
Crecimiento de compuestos ternarios TiN-(Al, Si, Cr) por implantación con iones N2+ de baja energía, de compuestos intermetálicos Ti-Al, Ti-Si y Ti-Cr: un estudio in-situ por técnicas de superficies.
- Palacio Orcajo, Carlos (Investigador principal (IP))
- Arranz de Gustin, Antonio (Investigador/a)
Ejecución: 01-10-2002 - 30-09-2005
- iMarina
Este/a investigador/a no tiene tesis dirigidas.
Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.
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