Los datos mostrados de la Universidad Carlos III de Madrid son parciales, pues con ellos se pretende responder a 2 preguntas:
- ¿Quién investiga un tema concreto?
- ¿Qué investiga un/a investigador/a, grupo o departamento específico?
Por esta razón sólo recoge investigadores/as en activo.
Además, sólo se recogen los resultados de investigación siguiendo estos límites:
- Proyectos de investigación desde 2006.
- Publicaciones, Tesis doctorales, Patentes y Software desde 2008.
Entrena Arrontes, Luis Alfonso entrena@ing.uc3m.es
Actividades
- Artículos 42
- Libros 0
- Capítulos de libro 2
- Congresos 40
- Documentos de trabajo 0
- Informes técnicos 0
- Proyectos de investigación 44
- Tesis dirigidas 4
- Patentes o licencias de software 1
Using Benchmarks for Radiation Testing of Microprocessors and FPGAs
- Quinn, Heather
- Robinson, William H.
- Rech, Paolo
- Aguirre, Miguel
- Barnard, Arno
- Desogus, Marco
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
- Guertín, Steven M.
- Kaeli, D.
- Kastensmidt, Fernanda Lima
- Kiddie, Bradley T.
- Sanchez Clemente, Antonio Jose
- Sonza Reorda, Matteo
- Sterpone, Luca
- Wirthlin, Michael
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (p. 2547-2554) - 12/2015
https://doi.org/10.1109/tns.2015.2498313 Ver en origen
- EISSN 1558-1578
- ISSN 0018-9499
Using Approximate Circuits Against Hardware Trojans
- Martin Gonzalez, Honorio
- Dupuis, Sophie
- Di Natale, Giorgio
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
IEEE Design & Test - 10/2021
10.1109/mdat.2021.3117741 Ver en origen
- ISSN 2168-2356
Towards a Dependable True Random Number Generator With Self-Repair Capabilities
- Martin Gonzalez, Honorio
- Di Natale, Giorgio
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS (p. 247-256) - 1/2018
https://doi.org/10.1109/tcsi.2017.2711033 Ver en origen
- EISSN 1558-0806
- ISSN 1549-8328
Total ionizing dose effects on a delay-based physical unclonable function implemented in FPGAs
- Martin Gonzalez, Honorio
- Martín Holgado, Pedro
- Morilla, Yolanda
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- San Millan Heredia, Enrique
Electronics - 8/2018
https://doi.org/10.3390/electronics7090163 Ver en origen
- EISSN 2079-9292
The Use of Microprocessor Trace Infrastructures for Radiation-Induced Fault Diagnosis
- Peña Fernandez, Manuel
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (p. 126-134) - 1/2020
https://doi.org/10.1109/tns.2019.2956204 Ver en origen
- EISSN 1558-1578
- ISSN 0018-9499
Soft Error Sensitivity Evaluation of Microprocessors by Multilevel Emulation-Based Fault Injection
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
- Fernandez Cardenal, Raul
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Portela Garcia, Marta
- Lopez Ongil, Celia
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS (p. 313-322) - 3/2012
https://doi.org/10.1109/tc.2010.262 Ver en origen
- EISSN 1557-9956
- ISSN 0018-9340
SET Emulation under a Quantized Delay Model
- Garcia Valderas, Mario
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Fernandez Cardenal, Raul
- Lopez Ongil, Celia
- Portela Garcia, Marta
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS (p. 107-116) - 2/2009
https://doi.org/10.1007/s10836-008-5081-3 Ver en origen
- EISSN 1573-0727
- ISSN 0923-8174
SET Emulation Considering Electrical Masking Effects
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
- Fernandez Cardenal, Raul
- Portela Garcia, Marta
- Lopez Ongil, Celia
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (p. 2015-2021) - 8/2009
https://doi.org/10.1109/tns.2009.2013346 Ver en origen
- EISSN 1558-1578
- ISSN 0018-9499
Reliability Evaluation of LU Decomposition on GPU-Accelerated System-on-Chip Under Proton Irradiation
- Badia, Jose M.
- Leon, German
- Belloch Rodriguez, Jose Antonio
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Garcia Valderas, Mario
- Morilla, Yolanda
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (p. 1467-1474) - 7/2022
https://doi.org/10.1109/tns.2022.3155820 Ver en origen
- EISSN 1558-1578
- ISSN 0018-9499
Reduced resolution redundancy: A novel approximate error mitigation technique
- Garcia Astudillo, Luis Angel
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Martin Gonzalez, Honorio
IEEE Access (p. 20643-20651) - 2/2022
https://doi.org/10.1109/access.2022.3152202 Ver en origen
- EISSN 2169-3536
Este/a investigador/a no tiene libros.
Hardware Fault Injection. In: Soft Errors in Modern Electronic Systems
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lopez Ongil, Celia
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
- Nicolaidis, Michael
Soft Errors in Modern Electronic Systems (p. 141-166) - 11/2010
Editor: SPRINGER
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6993-4_6 Ver en origen
- ISBN 978-1-4419-6992-7
Fault-tolerance techniques for soft-core processors using the trace interface. In: FPGAs and parallel architectures for aerospace applications
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Portela Garcia, Marta
- Parra Avellaneda, Luis Isaias
- Du, Boyang
- Sonza Reorda, Matteo
- Sterpone, Luca
FPGAs and parallel architectures for aerospace applications (p. 293-293-306) - 1/2016
Editor: SPRINGER
https://doi.org/10.1007/978-3-319-14352-1_19 Ver en origen
- ISBN 978-3-319-14351-4
Using an FPGA-Based Fault Injection Technique to Evaluate Software Robustness Under SEEs: A Case Study
- Portela Garcia, Marta
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
- Lopez Ongil, Celia
- Pianta, B.
- Poelhs, L. B.
- Vargas, F.
12th Latin American test Workshop (LATW 2011) - 2011
Editor: IEEE - THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC
- ISBN 978-1-4577-1489-4
The Use of Benchmarks for High-Reliability Systems
- Sanchez Clemente, Antonio Jose
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
- Aguirre, Miguel
- Quinn, Heather
- Robinson, William H.
- Rech, Paolo
- Barnard, Arno
- Desogus, Marco
- Guertín, Steven M.
- Kaeli, David
- Kastensmidt, Fernanda Lima
- Kiddie, Bradley T.
- Sonza Reorda, Matteo
- Sterpone, Luca
- Wirthlin, Michael
11th IEEE Workshop on Silicon Errors in Logic - System Effects<br/>(SELSE 2015) - 2015
The Effects of Proton Irradiation on CoolRunner-II CPLD Technology
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lopez Ongil, Celia
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
- De Mingo, J.r.
- Martín Ortega, A.
- Álvarez, M.
- Esteve, S.
- Rodriguez, S
8th European Workshop on Radiation Effects on Components and Systems - 2008
Study on the Effect of Multiple Errors in Robust Systems Based on Critical Task Distribution
- Vaskova, Anna
- Lopez Ongil, Celia
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Portela Garcia, Marta
- Garcia Valderas, Mario
- Martín Ortega, A.
- De Mingo, J.r.
- Rodriguez, S
2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) (p. 463-466) - 2011
Editor: IEEE - THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC
- ISBN 978-1-4577-0585-4
Smart Hardening for Round-based Encryption Algoritms: Application to Advanced Encryptijon Standard
- Lopez Ongil, Celia
- Jimenez Horas, Alejandro
- Portela Garcia, Marta
- Garcia Valderas, Mario
- San Millan Heredia, Enrique
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - 2008
Sensitivity Evaluation Method for Aerospace Digital Systems with Collaborative Hardening
- Portela Garcia, Marta
- Garcia Valderas, Mario
- San Millan Heredia, Enrique
- Lopez Ongil, Celia
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Martín-ortega, Alberto
- Mingo, Jose Ramón De
- Rodríguez, Santiago
Radiation Effects on Components and Systems Workshop (RADECS) (p. 1053-1058) - 2011
Editor: IEEE INTERNATIONAL LLC
https://doi.org/10.1109/tns.2011.2109397 Ver en origen
- ISBN 9781457705854
SEU Sensitivity of Robust Communication Protocols
- Lopez Ongil, Celia
- Portela Garcia, Marta
- Garcia Valderas, Mario
- Vaskova, Anna
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Rivas Abalo, J.
- Martín Ortega, A.
- Martinez Oter, J.
- Rodriguez Bustabad, S.
- Arruego, I.
18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2012) (p. 188-193) - 2012
Editor: IEEE - THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC
- ISBN 978-1-4673-2082-5
SEU Sensitivity Comparison for Different Reprogrammable Technologies With Minority Check Block
- Vaskova, Anna
- Lopez Ongil, Celia
- Portela Garcia, Marta
- Garcia Valderas, Mario
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2012) (p. 2813-2818) - 2013
Editor: IEEE - THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC
https://doi.org/10.1109/tns.2013.2245343 Ver en origen
- ISBN 0018-9499
SET Fault Injection Attacks on a Hardware Implementation of the SHA Cypher
- Arevalo Garbayo, Jose Maximino
- Portela Garcia, Marta
- Lopez Ongil, Celia
- Garcia Valderas, Mario
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
XXVII Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2012) - 2012
SET Emulation Considering Electrical Masking Effects
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
- Lopez Ongil, Celia
- Fernandez Cardenal, Raul
8th European Workshop on Radiation Effects on Components and Systems - 2008
Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.
Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.
CCG07-UC3M/TIC-3151 - Circuitos de bajo consumo de potencia y baja tensión de alimentación para comunicaciones inalámbricas.
- Paton Alvarez, Susana
- Lopez Ongil, Celia
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Hernandez Corporales, Luis
- Mengibar Pozo, Luis
- Garcia Lorenz, Michael Victorio
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Liu Jimenez, Judith
- Prefasi Sen, Enrique Jose
- Miguel Hurtado, Oscar
Ejecución: 01-01-2008 - 28-02-2009
Tipo: Regional
Financiado por: COMUNIDAD DE MADRID-UC3M
CCG06-UC3M/TIC-0705 - CP06: MICROELECTRÓNICA APLICADA A LA GENERACIÓN DE CIRCUITOS ROBUSTOS DE ALTAS PRESTACIONES
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lopez Ongil, Celia
- San Millan Heredia, Enrique
- Hernandez Corporales, Luis
- Mengibar Pozo, Luis
- Garcia Lorenz, Michael Victorio
- Sanchez Reillo, Raul
- Paton Alvarez, Susana
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Liu Jimenez, Judith
- Prefasi Sen, Enrique Jose
- Sanchez Renedo, Manuel
- Miguel Hurtado, Oscar
Ejecución: 01-01-2007 - 29-02-2008
Financiado por: COMUNIDAD DE MADRID-UC3M
UC3M-TEC-05-057 - CP05-MICROELECTRÓNICA APLICADA A MODULADORES SIGMA-DELTA EN TIEMPO CONTINUO PARA SISTEMAS DE COMUNICACIONES
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lopez Ongil, Celia
- San Millan Heredia, Enrique
- Hernandez Corporales, Luis
- Mengibar Pozo, Luis
- Garcia Lorenz, Michael Victorio
- Sanchez Reillo, Raul
- Paton Alvarez, Susana
- Garcia Valderas, Mario
- Casado Ortiz, Fernando
- Portela Garcia, Marta
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Liu Jimenez, Judith
- Prefasi Sen, Enrique Jose
- Miguel Hurtado, Oscar
Ejecución: 01-01-2006 - 31-03-2007
Financiado por: COMUNIDAD DE MADRID-UC3M
TSI-020400-2008-22 - CIRCE, Contribución española al proyecto PARACHUTE (MEDEA+ 2A701)
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lopez Ongil, Celia
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
Ejecución: 01-01-2008 - 31-03-2009
Tipo: Europeo
Financiado por: MINISTERIO DE ENERGIA, TURISMO Y AGENDA DIGITAL
FIT-330100-2006-92 - CIRCE, Contribución española al proyecto PARACHUTE (MEDEA+ 2A701)
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lopez Ongil, Celia
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
Ejecución: 01-01-2006 - 31-03-2008
Tipo: Europeo
Financiado por: MINISTERIO INDUSTRIA, TURISMO Y COMERCIO DIR. GRAL. DESARROLLO SOC. INFORMACION
Beam Hopping Enabled Digital ASIC
- Garcia Valderas, Mario
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Portela Garcia, Marta
Ejecución: 01-11-2015 - 01-09-2016
Tipo: Regional
Financiado por: ARQUIMEA INGENIERIA, S.L.U.
Subcontratación PROFIT 2006 - BIOMATCH. Lector de Tarjetas Inteligentes con Securización Biométrica
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- San Millan Heredia, Enrique
- Sanchez Reillo, Raul
- Lindoso Muñoz, Almudena
Ejecución: 01-03-2006 - 31-12-2006
Financiado por: C3PO, S.A.
TSI-020400-2010-53 - Apolo-participación española en el proyecto optimise
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lopez Ongil, Celia
- San Millan Heredia, Enrique
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Zharikov Sanchez, Yuri
Ejecución: 06-05-2010 - 31-12-2012
Tipo: Europeo
Financiado por: MINISTERIO INDUSTRIA, TURISMO Y COMERCIO
Expte.: 2006/1497 - Aplicación para Test de CPLD Coolrunner-II
- Lopez Ongil, Celia
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
Ejecución: 18-06-2006 - 18-12-2006
Tipo: Nacional
Financiado por: INSTITUTO NACIONAL DE TECNICA AEROESPACIAL (INTA)
TEC2010-22095-C03-03 - Análisis integral de circuitos y sistemas digitales para aplicaciones aeroespaciales, subproyecto "Diseño y verificación de sistemas digitales robustos"
- Lopez Ongil, Celia
- San Millan Heredia, Enrique
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Garcia Valderas, Mario
- Portela Garcia, Marta
- Lindoso Muñoz, Almudena
- Arevalo Garbayo, Jose Maximino
- Vaskova, Anna
- Martin Gonzalez, Honorio
- Velazco, Raoul
- Parra Avellaneda, Luis Isaias
- Sanchez Clemente, Antonio Jose
Ejecución: 01-01-2011 - 30-09-2014
Tipo: Nacional
Financiado por: MINISTERIO DE CIENCIA E INNOVACION
Error Detection and Diagnosis for System-on-Chip in Space Applications
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Peña Fernandez, Manuel
- Lindoso Muñoz, Almudena
Fecha de defensa: 20-06-2022
Contribución al reconocimiento de huellas dactilares mediante técnicas de correlación y arquitecturas hardware para el aumento de prestaciones
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Lindoso Muñoz, Almudena
Fecha de defensa: 08-05-2009
Técnicas<br/> Híbridas de Tolerancia a Fallos en Microprocesadores
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Parra Avellaneda, Luis Isaias
- Lindoso Muñoz, Almudena
Fecha de defensa: 15-11-2017
Dispositivo y procedimiento para la identificación unívoca de un circuito integrado
- Entrena Arrontes, Luis Alfonso
- Martin Gonzalez, Honorio
- San Millan Heredia, Enrique
3/5/2019
Fecha de registro: 31-03-2017
Fecha de concesión: 03-05-2019
Grupos de investigación
Perfiles de investigador/a
-
ORCID
-
Web of Science ResearcherID
-
Scopus Author ID