Los datos mostrados de la Universidad Carlos III de Madrid son parciales, pues con ellos se pretende responder a 2 preguntas:

  • ¿Quién investiga un tema concreto?
  • ¿Qué investiga un/a investigador/a, grupo o departamento específico?

Por esta razón sólo recoge investigadores/as en activo.

Además, sólo se recogen los resultados de investigación siguiendo estos límites:

  • Proyectos de investigación desde 2006.
  • Publicaciones, Tesis doctorales, Patentes y Software desde 2008.
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Perfil en el portal institucional

Entrena Arrontes, Luis Alfonso entrena@ing.uc3m.es

Tecnología Electrónica / Universidad Carlos III de Madrid

Actividades

Fault Injection in Modern Microprocessors Using On-Chip Debugging Infrastructures

  • Portela Garcia, Marta
  • Lopez Ongil, Celia
  • Garcia Valderas, Mario
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso

IEEE Transactions on Dependable and Secure Computing (p. 308-314) - 3/2011

https://doi.org/10.1109/tdsc.2010.50 Ver en origen

  • EISSN 1941-0018
  • ISSN 1545-5971
Open Access

Evaluation of the Suitability of NEON SIMD Microprocessor Extensions Under Proton Irradiation

  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Garcia Valderas, Mario
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Morilla, Y.
  • Martin Holgado, P.

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (p. 1835-1842) - 8/2018

https://doi.org/10.1109/tns.2018.2823540 Ver en origen

  • EISSN 1558-1578
  • ISSN 0018-9499

Evaluating the Effectiveness of a Software-Based Technique Under SEEs Using FPGA-Based Fault Injection Approach

  • Portela Garcia, Marta
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario
  • Lopez Ongil, Celia
  • Marroni, N.
  • Pianta, B.
  • Poehls, L. Bolzani
  • Vargas, F.
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JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS (p. 777-789) - 12/2012

https://doi.org/10.1007/s10836-012-5321-4 Ver en origen

  • EISSN 1573-0727
  • ISSN 0923-8174
Open Access

Error sensitivity study of FFT architectures implemented in FPGA

  • Garcia Astudillo, Luis Angel
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Martin Gonzalez, Honorio
  • Garcia Valderas, Mario

MICROELECTRONICS RELIABILITY (p. 1-5) - 11/2021

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114298 Ver en origen

  • ISSN 0026-2714
Open Access

Error Mitigation Using Approximate Logic Circuits: A Comparison of Probabilistic and Evolutionary Approaches

  • Sanchez Clemente, Antonio Jose
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Hrbacek, Radek
  • Sekanina, Lukas

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY (p. 1871-1883) - 12/2016

https://doi.org/10.1109/tr.2016.2604918 Ver en origen

  • EISSN 1558-1721
  • ISSN 0018-9529
Open Access

Error Detection and Mitigation of Data-Intensive Microprocessor Applications Using SIMD and Trace Monitoring

  • Peña Fernandez, Manuel
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (p. 1452-1460) - 7/2020

https://doi.org/10.1109/tns.2020.2992299 Ver en origen

  • EISSN 1558-1578
  • ISSN 0018-9499
Open Access

Efficient mitigation of data and control-flow errors in microprocessors

  • Parra Avellaneda, Luis Isaias
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Portela Garcia, Marta
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Restrepo Calle, Felipe
  • Cuenca Asensi, Sergio
  • Martinez Alvarez, Antonio
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (p. 1590-1596) - 8/2014

https://doi.org/10.1109/tns.2014.2310492 Ver en origen

  • EISSN 1558-1578
  • ISSN 0018-9499

Dynamic control of entropy and power consumption in TRNGs for IoT applications

  • Martin Gonzalez, Honorio
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso

IEICE Electronics Express (p. 1-11) - 1/2018

https://doi.org/10.1587/elex.14.20171157 Ver en origen

  • EISSN 1349-9467
  • ISSN 1349-2543
Open Access

Dual-Core Lockstep enhanced with redundant multithread support and control-flow error detection

  • Peña Fernandez, Manuel
  • Serrano-cases, A.
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Garcia Valderas, Mario
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Martinez-alvarez, A.
  • Cuenca-asensi, S.
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MICROELECTRONICS RELIABILITY (p. 113447) - 9/2019

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.113447 Ver en origen

  • ISSN 0026-2714

Constrained Placement Methodology for Reducing SER Under Single-Event-Induced Charge Sharing Effects

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Pagliarini, Samuel N.
  • Almeida, Felipe
  • Kastensmidt, Fernanda

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE (p. 811-817) - 8/2012

https://doi.org/10.1109/tns.2012.2191796 Ver en origen

  • EISSN 1558-1578
  • ISSN 0018-9499

Este/a investigador/a no tiene libros.

Hardware Fault Injection. In: Soft Errors in Modern Electronic Systems

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Lopez Ongil, Celia
  • Garcia Valderas, Mario
  • Portela Garcia, Marta
  • Nicolaidis, Michael

Soft Errors in Modern Electronic Systems (p. 141-166) - 11/2010

Editor: SPRINGER

https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6993-4_6 Ver en origen

  • ISBN 978-1-4419-6992-7

Fault-tolerance techniques for soft-core processors using the trace interface. In: FPGAs and parallel architectures for aerospace applications

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Portela Garcia, Marta
  • Parra Avellaneda, Luis Isaias
  • Du, Boyang
  • Sonza Reorda, Matteo
  • Sterpone, Luca
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FPGAs and parallel architectures for aerospace applications (p. 293-293-306) - 1/2016

Editor: SPRINGER

https://doi.org/10.1007/978-3-319-14352-1_19 Ver en origen

  • ISBN 978-3-319-14351-4

Using an FPGA-Based Fault Injection Technique to Evaluate Software Robustness Under SEEs: A Case Study

  • Portela Garcia, Marta
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario
  • Lopez Ongil, Celia
  • Pianta, B.
  • Poelhs, L. B.
  • Vargas, F.
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12th Latin American test Workshop (LATW 2011) - 2011

Editor: IEEE - THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC

  • ISBN 978-1-4577-1489-4

The Use of Benchmarks for High-Reliability Systems

  • Sanchez Clemente, Antonio Jose
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario
  • Aguirre, Miguel
  • Quinn, Heather
  • Robinson, William H.
  • Rech, Paolo
  • Barnard, Arno
  • Desogus, Marco
  • Guertín, Steven M.
  • Kaeli, David
  • Kastensmidt, Fernanda Lima
  • Kiddie, Bradley T.
  • Sonza Reorda, Matteo
  • Sterpone, Luca
  • Wirthlin, Michael
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11th IEEE Workshop on Silicon Errors in Logic - System Effects<br/>(SELSE 2015) - 2015

The Effects of Proton Irradiation on CoolRunner-II CPLD Technology

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Lopez Ongil, Celia
  • Garcia Valderas, Mario
  • Portela Garcia, Marta
  • De Mingo, J.r.
  • Martín Ortega, A.
  • Álvarez, M.
  • Esteve, S.
  • Rodriguez, S
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8th European Workshop on Radiation Effects on Components and Systems - 2008

Study on the Effect of Multiple Errors in Robust Systems Based on Critical Task Distribution

  • Vaskova, Anna
  • Lopez Ongil, Celia
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Portela Garcia, Marta
  • Garcia Valderas, Mario
  • Martín Ortega, A.
  • De Mingo, J.r.
  • Rodriguez, S
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2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) (p. 463-466) - 2011

Editor: IEEE - THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC

  • ISBN 978-1-4577-0585-4

Smart Hardening for Round-based Encryption Algoritms: Application to Advanced Encryptijon Standard

  • Lopez Ongil, Celia
  • Jimenez Horas, Alejandro
  • Portela Garcia, Marta
  • Garcia Valderas, Mario
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso

14th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - 2008

Sensitivity Evaluation Method for Aerospace Digital Systems with Collaborative Hardening

  • Portela Garcia, Marta
  • Garcia Valderas, Mario
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Lopez Ongil, Celia
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Martín-ortega, Alberto
  • Mingo, Jose Ramón De
  • Rodríguez, Santiago
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Radiation Effects on Components and Systems Workshop (RADECS) (p. 1053-1058) - 2011

Editor: IEEE INTERNATIONAL LLC

https://doi.org/10.1109/tns.2011.2109397 Ver en origen

  • ISBN 9781457705854

SEU Sensitivity of Robust Communication Protocols

  • Lopez Ongil, Celia
  • Portela Garcia, Marta
  • Garcia Valderas, Mario
  • Vaskova, Anna
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Rivas Abalo, J.
  • Martín Ortega, A.
  • Martinez Oter, J.
  • Rodriguez Bustabad, S.
  • Arruego, I.
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18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2012) (p. 188-193) - 2012

Editor: IEEE - THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC

  • ISBN 978-1-4673-2082-5
Open Access

SEU Sensitivity Comparison for Different Reprogrammable Technologies With Minority Check Block

  • Vaskova, Anna
  • Lopez Ongil, Celia
  • Portela Garcia, Marta
  • Garcia Valderas, Mario
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso

Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2012) (p. 2813-2818) - 2013

Editor: IEEE - THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, INC

https://doi.org/10.1109/tns.2013.2245343 Ver en origen

  • ISBN 0018-9499

SET Fault Injection Attacks on a Hardware Implementation of the SHA Cypher

  • Arevalo Garbayo, Jose Maximino
  • Portela Garcia, Marta
  • Lopez Ongil, Celia
  • Garcia Valderas, Mario
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso

XXVII Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2012) - 2012

SET Emulation Considering Electrical Masking Effects

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario
  • Portela Garcia, Marta
  • Lopez Ongil, Celia
  • Fernandez Cardenal, Raul

8th European Workshop on Radiation Effects on Components and Systems - 2008

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Verification of Seu-Mitigation Techniques in 3rd 4th Generation Flash FPGAs

  • Portela Garcia, Marta
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Garcia Astudillo, Luis Angel

Ejecución: 07-06-2018 - 07-12-2019

Tipo: Regional

Financiado por: ARQUIMEA INGENIERIA, S.L.U.

Validation of Approximate logic circuits at 28nm

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario
  • Sanchez Clemente, Antonio Jose

Ejecución: 31-07-2015 - 30-12-2016

Tipo: Internacional

Financiado por: IROC TECHNOLOGIES

TED2021-131401A-C22 - TECHTransformación digital del sector de la psicología: Sensado y Procesado eficiente de características fisiológicas

  • Martin Gonzalez, Honorio
  • Belloch Rodriguez, Jose Antonio
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario
  • Lindoso Muñoz, Almudena

Ejecución: 01-12-2022 - 30-11-2024

Tipo: Nacional

Financiado por: AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACION (AEI)

Software ModCoupler - Mantenimiento

  • Barrado Bautista, Andres
  • Lazaro Blanco, Antonio
  • Garcia Valderas, Mario
  • Lopez Ongil, Celia
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Sanz Garcia, Clara Marina
  • Zumel Vaquero, Pablo
  • Portela Garcia, Marta
  • Fernandez Herrero, Cristina
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Quesada Redondo, Isabel
  • Raga Arroyo, Maria Carmen
  • Valdivia Guerrero, Virgilio
  • Lucena Fernandez, Carlos
  • Martinez Nieto, Carlos David
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Ejecución: 06-08-2009 - 05-08-2023

Tipo: Internacional

Financiado por: VARIOS SERVICIOS TERCEROS DE

Sistema de provisión y consumo de contenidos multimedia HD en medios de transporte colectivo de viajeros basado en la tecnología LiFi para la transmisión de datos

  • Sanchez Pena, Jose Manuel
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Garcia Valderas, Mario
  • Portela Garcia, Marta
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Torres Zafra, Juan Carlos
  • Martin Gonzalez, Honorio
  • Fernández Barbosa, Pedro Rafael
  • Belloch Rodriguez, Jose Antonio
  • Montes Odriozola, Aitor
  • Betancourt Perlaza, Juan Sebastian
  • Lozada Dominguez, Randy
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Ejecución: 14-02-2019 - 22-03-2022

Tipo: Regional

Financiado por: OPTIVA MEDIA

Radiation tolerant analogue mixed signal technology survey and test vehicle design - Asic seduce hf

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Lopez Ongil, Celia
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Garcia Valderas, Mario
  • Portela Garcia, Marta
  • Lindoso Muñoz, Almudena

Ejecución: 17-09-2010 - 29-02-2016

Tipo: Regional

Financiado por: ARQUIMEA INGENIERIA, S.L.U.

Radiation Hardening of a Polyphase-FFT Demultiplexer

  • Portela Garcia, Marta
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Garcia Valderas, Mario

Ejecución: 01-12-2014 - 15-04-2015

Tipo: Europeo

Financiado por: THALES ALENIA SPACE FRANCE

101008126 - RADNEXT - RADiation facility Network for the EXploration of effects for indusTry and research

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • San Millan Heredia, Enrique
  • Garcia Valderas, Mario
  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Martin Gonzalez, Honorio
  • Belloch Rodriguez, Jose Antonio

Ejecución: 01-06-2021 - 31-05-2025

Tipo: Europeo

Financiado por: EUROPEAN COMMISSION RESEARCH EXECUTIVE AGENCY

Portado de Módulos Criptográficos

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso

Ejecución: 01-07-2011 - 31-12-2011

Tipo: Nacional

Financiado por: CENTRO NACIONAL DE INTELIGENCIA

Proyecto ESA, Pedido PC/22/03/00096 - Online detection and diagnosis for radiation-induced errors in COTS microprocessors

  • Lindoso Muñoz, Almudena
  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Martin Gonzalez, Honorio

Ejecución: 01-11-2021 - 31-05-2023

Tipo: Regional

Financiado por: ARQUIMEA AEROSPACE DEFENCE AND SECURITY, S.L.U.

Error Detection and Diagnosis for System-on-Chip in Space Applications

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Peña Fernandez, Manuel
  • Lindoso Muñoz, Almudena

Fecha de defensa: 20-06-2022

Contribución al reconocimiento de huellas dactilares mediante técnicas de correlación y arquitecturas hardware para el aumento de prestaciones

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Lindoso Muñoz, Almudena

Fecha de defensa: 08-05-2009

Técnicas<br/> Híbridas de Tolerancia a Fallos en Microprocesadores

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Parra Avellaneda, Luis Isaias
  • Lindoso Muñoz, Almudena

Fecha de defensa: 15-11-2017

Transient<br/> error mitigation by means of approximate logic circuits

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Sanchez Clemente, Antonio Jose

Fecha de defensa: 03-11-2017

Dispositivo y procedimiento para la identificación unívoca de un circuito integrado

  • Entrena Arrontes, Luis Alfonso
  • Martin Gonzalez, Honorio
  • San Millan Heredia, Enrique

3/5/2019

Fecha de registro: 31-03-2017

Fecha de concesión: 03-05-2019

Última actualización de los datos: 9/04/24 2:07