Tecnoestrés y satisfacción laboral: propuesta de un modelo causal - Blanca López Araujo; María de la Fe Rodríguez Muñoz; Amparo Osca Segovia; María Dolores Martínez Pérez (VI Semana de Investigación de la Facultad de Psicología: Madrid, 20-24 de noviembre de 2006, 2006)