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Aranda Barjola, Luis Alberto luis.aranda@urjc.es

Ciencias de la Computación, Arquitectura de Computadores, Lenguajes y Sistemas Informáticos y Estadística e Investigación Operativa / Universidad Rey Juan Carlos

Actividades

Protection Scheme for Star Tracker Images

  • Alberto Aranda, Luis
  • Reviriego, Pedro
  • Toral, Ricardo G.
  • Antonio Maestro, Juan;

Ieee Transactions On Aerospace And Electronic Systems (p. 486-492) - 1/2/2019

10.1109/taes.2018.2849919 Ver en origen

  • ISSN 00189251

Enhancing Instruction TLB Resilience to Soft Errors

  • Sanchez-Macian, Alfonso
  • Alberto Aranda, Luis
  • Reviriego, Pedro
  • Kiani, Vahdaneh
  • Antonio Maestro, Juan;

Ieee Transactions On Computers (p. 214-224) - 1/2/2019

10.1109/tc.2018.2874467 Ver en origen

  • ISSN 00189340

Reducing false positives due to double adjacent errors in instruction TLBs

  • Sanchez-Macian, A.
  • Aranda, L. A.
  • Reviriego, P.
  • Maestro, J. A.;

Microelectronics Reliability - 1/11/2019

10.1016/j.microrel.2019.113494 Ver en origen

  • ISSN 00262714

ACME: A Tool to Improve Configuration Memory Fault Injection in SRAM-Based FPGAs

  • Alberto Aranda, Luis
  • Sanchez-Macian, Alfonso
  • Antonio Maestro, Juan;

Ieee Access (p. 128153-128161) - 1/1/2019

10.1109/access.2019.2939858 Ver en origen

  • ISSN 21693536

A Comparison of Dual Modular Redundancy and Concurrent Error Detection in Finite Impulse Response Filters Implemented in SRAM-Based FPGAs Through Fault Injection

  • Alberto Aranda, Luis
  • Reviriego, Pedro
  • Antonio Maestro, Juan;

Ieee Transactions On Circuits And Systems Ii-Express Briefs (p. 376-380) - 1/3/2018

10.1109/tcsii.2017.2717490 Ver en origen

  • ISSN 15497747

Protecting Image Processing Pipelines against Configuration Memory Errors in SRAM-Based FPGAs

  • Aranda, Luis Alberto
  • Reviriego, Pedro
  • Maestro, Juan Antonio;

Electronics - 1/11/2018

10.3390/electronics7110322 Ver en origen

  • ISSN 08834989

Error Detection Technique for a Median Filter

  • Aranda, Luis Alberto
  • Reviriego, Pedro
  • Maestro, Juan Antonio;

Ieee Transactions On Nuclear Science (p. 2219-2226) - 1/8/2017

10.1109/tns.2017.2666843 Ver en origen

  • ISSN 00189499

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Última actualización de los datos: 14/07/23 13:56