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PANCORBO CASTRO, MANUEL

FÍSICA INTERDISCIPLINAR / Universidad Nacional de Educación a Distancia

Publications

“Ciencia electromagnética: del cole a casa”: Un proyecto de divulgación científica dirigido a los más pequeños

  • María del Mar Montoya Lirola
  • Óscar Gálvez González
  • M. Pancorbo Castro
  • Juan Pedro Sánchez Fernández
  • Mikel Sanz

Revista española de física (p. 5) - 2022

Editor: Real Sociedad Española de Física

  • ISSN/ISBN 0213-862X

Proyecto de divulgación. Ciencia electromagnética: Del cole a casa

  • Óscar Gálvez González
  • María del Mar Montoya Lirola
  • M. Pancorbo Castro
  • Juan Pedro Sánchez Fernández

100cias@uned (p. 119-120) - 2019

Editor: Facultad de Ciencias

  • ISSN/ISBN 1989-7189

El sonido que vino del éter

  • M. Pancorbo Castro

100cias@uned (p. 264-270) - 2017

Editor: Facultad de Ciencias

  • ISSN/ISBN 1989-7189

Semblanza de los Premios Nobel en Física 2011

  • M. Pancorbo Castro

100cias@uned (p. 133-138) - 2012

Editor: Facultad de Ciencias

  • ISSN/ISBN 1989-7189

Noise characterization in scanning tunneling microscopy (STM)

  • Aguilar, M.
  • Pancorbo, M.

Pattern Recognition Letters (p. 985-992) - 1994

10.1016/0167-8655(94)90030-2 View at source

  • ISSN/ISBN 0167-8655

Erratum: Fractal characterization by frequency analysis. I. Surfaces (J. Microsc. 172, (1993) 223-232)

  • Anguiano E
  • Vazquez F
  • Pancorbo M
  • Aguilar M

Journal of Microscopy (p. 130) - 1/1/1994

  • ISSN 00222720
  • ISSN/ISBN 0022-2720

Fractal characterization by frequency analysis: III. Effect of noise

  • PANCORBO, M
  • ANGUIANO, E
  • AGUILAR, M;

Journal of Microscopy (p. 54-62) - 1/1/1994

10.1111/j.1365-2818.1994.tb03499.x View at source

  • ISSN 00222720
  • ISSN/ISBN 1365-2818

Fractal characterization by frequency analysis. II. A new method

  • AGUILAR, M.
  • ANGUIANO, E.
  • PANCORBO, M.

Journal of Microscopy (p. 233-238) - 1993

10.1111/j.1365-2818.1993.tb03417.x View at source

  • ISSN/ISBN 1365-2818

Fractal characterization by frequency analysis. I. Surfaces

  • ANGUIANO, E
  • PANCORBO, M
  • AGUILAR, M;

Journal of Microscopy (p. 223-232) - 1/1/1993

10.1111/j.1365-2818.1993.tb03416.x View at source

  • ISSN 00222720
  • ISSN/ISBN 1365-2818

Study of the surface roughness of Co-based amorphous alloys by STM

  • Aguilar M
  • Pancorbo M
  • Vázquez F
  • Gómez F
  • Anguiano E
  • González JM
  • Vázquez M
  • Cebollada F
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Ultramicroscopy (p. 1329-1336) - 1/1/1992

10.1016/0304-3991(92)90443-n View at source

  • ISSN 03043991
  • ISSN/ISBN 0304-3991

Electromagnetismo II

  • Victoriano López Rodríguez
  • María del Mar Montoya Lirola
  • M. Pancorbo Castro

2016

Editor: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia

  • ISSN/ISBN 9788436270105

Electromagnetismo.

  • Victoriano López Rodríguez
  • María del Mar Montoya Lirola
  • M. Pancorbo Castro

2012

Editor: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia

  • ISSN/ISBN 9788436271027

Pitfalls in the fractal characterization of real microscopic surfaces by frequency analysis and proposal of a new method

  • Anguiano E, Pancorbo M, Aguilar M

Ifip Transactions A-Computer Science And Technology (p. 37-46) - 1/1/1994

Editor: Publ by Elsevier Science Publishers B.V.

  • ISBN 0-444-81628-3
  • ISSN 09265473
  • ISSN/ISBN 0926-5473

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Manual web de cálculo numérico

  • Javier Rodríguez Laguna
  • M. Pancorbo Castro

La profesionalización del docente a través de la innovación educativa. Libro de actas: IX Jornadas de redes de investigación en innovación docente. UNED, Madrid. 28, 29 y 30 de junio de 2017 (p. 283-288) - 2018

Editor: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia

  • ISSN/ISBN 978-84-09-02666-1

Práctica de física mediante tutoría telemática

  • M. Pancorbo Castro
  • V. López Rodríguez
  • María del Mar Montoya Lirola

Conocimiento, método y tecnologías en la educación a distancia: actas de las Jornadas UNED-2000, Palencia, 28 de junio a 1 de julio (p. 380-383) - 2000

Editor: UNED - Universidad Nacional de Educación a Distancia

  • ISSN/ISBN 84-362-4164-9

Digital image processing applied to the study of surface roughness by STM

  • M. Aguilar Gutiérrez
  • Eloy Anguiano Rey
  • F. Vázquez Carracedo
  • Fernando Gómez Martín
  • M. Pancorbo Castro

Metromática/91: V Congreso Internacional de Metrología Industrial, 13-15 noviembre 1991 Zaragoza (España) (p. 477-486) - 1991

Editor: Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales

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Last data update: 8/21/23 7:15 PM