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Perfil en el portal institucional

Nuñez Mendoza, Neftali neftali.nunez@upm.es

ELECTRÓNICA FÍSICA, INGENIERÍA ELÉCTRICA Y FÍSICA APLICADA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Reliability analysis of temperature step-stress tests on III-V high concentrator solar cells

  • González, JR
  • Vázquez, M
  • Núñez, N
  • Algora, C
  • Rey-Stolle, I
  • Galiana, B

Microelectronics Reliability (p. 673-680) - 1/1/2009

10.1016/j.microrel.2009.04.001 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests

  • Nogueira E
  • Vázquez M
  • Núñez N

Microelectronics Reliability (p. 1240-1243) - 1/1/2009

10.1016/j.microrel.2009.06.031 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Real-time reliability test for a CPV module based on a power degradation model

  • González J
  • Vázquez M
  • Algora C
  • Núñez N

Progress In Photovoltaics (p. 113-122) - 1/1/2011

10.1002/pip.991 Ver en origen

  • ISSN 10627995

Instrumentation for accelerated life tests of concentrator solar cells

  • Núñez N
  • Vázquez M
  • González J
  • Jiménez F
  • Bautista J

Review Of Scientific Instruments - 1/1/2011

10.1063/1.3541800 Ver en origen

  • ISSN 00346748

Evaluation of the reliability of high concentrator GaAs solar cells by means of temperature accelerated aging tests

  • Núñez N
  • González J
  • Vázquez M
  • Algora C
  • Espinet P

Progress In Photovoltaics (p. 1104-1113) - 1/8/2013

10.1002/pip.2212 Ver en origen

  • ISSN 10627995

Semi-quantitative temperature accelerated life test (ALT) for the reliability qualification of concentrator solar cells and cell on carriers

  • Nuñez N
  • Vazquez M
  • Orlando V
  • Espinet-González P
  • Algora C

Progress In Photovoltaics (p. 1857-1866) - 1/12/2015

10.1002/pip.2631 Ver en origen

  • ISSN 10627995

Temperature accelerated life test on commercial concentrator III-V triple-junction solar cells and reliability analysis as a function of the operating temperature

  • Espinet-González P
  • Algora C
  • Núñez N
  • Orlando V
  • Vázquez M
  • Bautista J
  • Araki K
... Ver más Contraer

Progress In Photovoltaics (p. 559-569) - 1/5/2015

10.1002/pip.2461 Ver en origen

  • ISSN 10627995

High-power UV-LED degradation: Continuous and cycled working condition influence

  • Arques-Orobon F
  • Nuñez N
  • Vazquez M
  • Segura-Antunez C
  • González-Posadas V

Solid-State Electronics (p. 111-117) - 13/6/2015

10.1016/j.sse.2015.05.039 Ver en origen

  • ISSN 00381101

Functional analysis in long-term operation of high power UV-LEDS in continuous fluoro-sensing systems for hydrocarbon pollution

  • Arques-Orobon F
  • Nuñez N
  • Vazquez M
  • Gonzalez-Posadas V

Sensors - 26/2/2016

10.3390/s16030293 Ver en origen

  • ISSN 14248220

Failure analysis on lattice matched GaInP/Ga(In)As/Ge commercial concentrator solar cells after temperature accelerated life tests

  • Orlando, V
  • Gabás, M
  • Galiana, B
  • Espinet-González, P
  • Palanco, S
  • Nuñez, N
  • Vázquez, M
  • Araki, K
  • Algora, C
... Ver más Contraer

Progress In Photovoltaics (p. 97-112) - 1/1/2017

10.1002/pip.2818 Ver en origen

  • EISSN 1099-159X
  • ISSN 10627995

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Strategy for certified reliability analysis of III-V high concentration solar cells

  • González, JR
  • Algora, C
  • Rey-Stolle, I
  • Aarez, R
  • Vázquez, M
  • Núñez, N
  • Montalv, F
  • Barbero, J
  • Cordero, E
  • Galiana, E
  • Díaz, V
... Ver más Contraer

Conference Record Of The 2006 Ieee 4th World Conference On Photovoltaic Energy Conversion, Wcpec-4 (p. 702-705) - 1/1/2006

10.1109/wcpec.2006.279552 Ver en origen

III-V high concentrator solar cells: assessing the reliability of a new product

  • José Ramón González Ciprián
  • Carlos Algora Del Valle
  • Ignacio Rey-Stolle Prado
  • Manuel Vázquez
  • Neftalí Nuñez
  • Beatriz Galiana Blanco
  • Iván García Vara
  • Juán Barbero
  • Vicente Díaz Luque
... Ver más Contraer

(p. 9-12) - 12/3/2007

  • iMarina

STRATEGY FOR ASSESSING THE RELIABILITY OF III-V CONCENTRATOR SOLAR CELLS: WORKING PLAN REVIEW AND FIRST RESULTS

  • J.R. González
  • Nuñez Mendoza, Neftali
  • Rey-Stolle Prado, Ignacio
  • Algora del Valle, Carlos
  • Vazquez Lopez, Manuel

Conference Proceedings Cd (p. 1-4) - 16/11/2008

  • ISSN 00010782
  • iMarina

A new model to assess the reliability of CPV modules in real time outdoor tests

  • J.R. González
  • Nuñez Mendoza, Neftali
  • Algora del Valle, Carlos
  • Vazquez Lopez, Manuel

Conference Record Of The Ieee Photovoltaic Specialists Conference (p. 000786-000790) - 1/12/2009

10.1109/pvsc.2009.5411168 Ver en origen

  • ISSN 01608371

Reliability evaluation of III-V Concentrator solar cells

  • José R. González
  • Nuñez Mendoza, Neftali
  • Rey-Stolle Prado, Ignacio
  • Algora del Valle, Carlos
  • Vazquez Lopez, Manuel

Safety, Reliability And Risk Analysis: Theory, Methods And Applications - Proceedings Of The Joint Esrel And Sra-Europe Conference (p. 1949-1953) - 1/12/2009

  • ISSN 00010782
  • iMarina

Sistema de Instrumentación de Ensayos Acelerados para Evaluar la Fiabilidad de Dispositivos Semiconductores III-V a Partir de Datos de Degradación

  • J.R. González
  • E. Pérez
  • Nuñez Mendoza, Neftali
  • Algora del Valle, Carlos
  • Vazquez Lopez, Manuel

Proceedings (p. 1-12) - 3/6/2009

  • iMarina

Degradation mechanism analysis in temperature stress tests on III-V ultra-high concentrator solar cells using a 3D distributed model

  • Espinet P
  • Algora C
  • González J
  • Núnez N
  • Vázquez M

Microelectronics Reliability (p. 1875-1879) - 1/1/2010

10.1016/j.microrel.2010.07.128 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Degradation of AlInGaP red LEDs under drive current and temperature accelerated life tests

  • Vázquez M
  • Núñez N
  • Nogueira E
  • Borreguero A

Microelectronics Reliability (p. 1559-1562) - 1/1/2010

10.1016/j.microrel.2010.07.057 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Novel accelerated testing method for III-V concentrator solar cells

  • Núñez N
  • Vázquez M
  • González J
  • Algora C
  • Espinet P

Microelectronics Reliability (p. 1880-1883) - 1/1/2010

10.1016/j.microrel.2010.07.085 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Reliability improvement in III-V concentrator solar cells by means of perimeter protection

  • Nuñez Mendoza, Neftali
  • Algora del Valle, Carlos
  • Vazquez Lopez, Manuel

Aip Conference Proceedings (p. 221-224) - 29/11/2010

10.1063/1.3509196 Ver en origen

  • ISSN 15517616

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Convertidores Termofotovotaicos de InGaAs para Recuperación de Calor Residual y Baterías de Calor Latente

  • Bautista Villares, Jesus (Miembro del equipo de trabajo)
  • MARTIN DIEZ, PABLO (Miembro del equipo de trabajo)
  • Nuñez Mendoza, Neftali (Participante)
  • Algora del Valle, Carlos (Participante)
  • GABAS PEREZ, MARIA MERCEDES (Participante)
  • García Vara, Iván (Participante)
  • OREJUELA SANCHEZ, VICTOR MANUEL (Miembro del equipo de trabajo)
  • Hou, GuoJiao (Miembro del equipo de trabajo)
  • Vazquez Lopez, Manuel (Participante)
  • Rey-Stolle Prado, Ignacio (Investigador principal (IP))
... Ver más Contraer

Ejecución: 01-12-2022 - 30-11-2024

Tipo: Nacional

Importe financiado: 270710,00 Euros.

  • iMarina

Análisis de fiabilidad de leds de AlInGaP de alta eficiencia luminosa

  • Vazquez Lopez, Manuel (Director)
  • Nuñez Mendoza, Neftali (Director) Doctorando: Nogueira Díaz, Eduardo

1/10/2013

  • iMarina

Validación de HP UV-LED para la detección en continuo de contaminantes en aguas continentales mediante fluorescencia

  • Gonzalez Posadas, Vicente (Director)
  • Nuñez Mendoza, Neftali (Director) Doctorando: Arqués Orobón, Francisco José

1/1/2016

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 8/04/24 9:07