Nogueira Diaz, Eduardo eduardo.nogueira.diaz@upm.es
Actividades
- Artículos 5
- Libros 0
- Capítulos de libro 0
- Congresos 6
- Documentos de trabajo 0
- Informes técnicos 0
- Proyectos de investigación 11
- Tesis dirigidas 0
- Patentes o licencias de software 0
Lifetime of electret microphones by thermal degradation analysis via electroacoustic measurements
- Nogueira, E.
- Sancho Gil, Juan
- Sanchez Bote, Jose Luis;
Microelectronics Reliability (p. 95-100) - 1/2/2018
10.1016/j.microrel.2017.12.018 Ver en origen
- ISSN 00262714
Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests
- Nogueira E
- Vázquez M
- Núñez N
Microelectronics Reliability (p. 1240-1243) - 1/1/2009
10.1016/j.microrel.2009.06.031 Ver en origen
- ISSN 00262714
Accelerated life testing in epoxy packaged high luminosity light emitting diodes
- Nogueira E
- Vzquez M
- Algora C
Journal Of Electronic Packaging - 1/1/2011
10.1115/1.4004659 Ver en origen
- ISSN 10437398
Accelerated life test of high luminosity AlGaInP LEDs
- Nogueira, E.
- Vazquez, M.
- Mateos, J.;
Microelectronics Reliability (p. 1853-1858) - 1/9/2012
10.1016/j.microrel.2012.06.125 Ver en origen
- ISSN 00262714
Accelerated Life Test of high luminosity blue LEDs
- Nogueira, E.
- Orlando, V.
- Ochoa, J.
- Fernandez, A.
- Vazquez, M.;
Microelectronics Reliability (p. 631-634) - 1/9/2016
10.1016/j.microrel.2016.07.021 Ver en origen
- ISSN 00262714
Este/a investigador/a no tiene libros.
Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.
Induced Thermo-Mechanical Stress In CPV Receivers With Cycled High Intensity Light
- Perez, Valentin
- Anton, Ignacio
- Herrero, Rebeca
- Nogueira, Eduardo
- Nunez, Ruben
- del Canizo, Carlos
- Sala, Gabriel;
Aip Conference Proceedings (p. 254-258) - 1/1/2014
10.1063/1.4897073 Ver en origen
- ISSN 15517616
Evaluation of device reliability based on accelerated tests
- David Rodríguez
- NOGUEIRA DIAZ, EDUARDO
- Vazquez Lopez, Manuel
2009 Taylor & Francis Group, London (p. 899-904) - 1/1/2009
- iMarina
Degradation of AlInGaP red LEDs under drive current and temperature accelerated life tests
- Vázquez M
- Núñez N
- Nogueira E
- Borreguero A
Microelectronics Reliability (p. 1559-1562) - 1/1/2010
10.1016/j.microrel.2010.07.057 Ver en origen
- ISSN 00262714
Analysis of thermo-mechanical stress effects on CPV receiver under high intensity light cycles
- HERRERO MARTIN, REBECA
- NOGUEIRA DIAZ, EDUARDO
- SALA PANO, Gabriel
- CAÑIZO NADAL, CARLOS DEL
- NUÑEZ JUDEZ, RUBEN
- Antón Hernández, Ignacio
Wcpec-6 Technical Digest (p. 787-788) - 23/11/2014
- iMarina
Accelerated life tests of lead free solder alloys in presence of distilled water
- Nogueira, E
- Fernandez, A
- Florez, A
- Alvarez Santos, R
- Mino, E
Proceedings Of The 2013 Spanish Conference On Electron Devices (Cde 2013) (p. 249-251) - 8/4/2013
10.1109/cde.2013.6481389 Ver en origen
- ISSN 21634971
- iMarina
- iMarina
Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.
Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.
BIENES DE EQUIPO PARA CONTROL DE CALIDAD DE GENERADORES SOLARES INTEGRADOS EN VEHÍCULOS, AERONAVES o SATÉLITES
- REDONDO SANCHEZ-SERRANO, JUAN MANUEL (Investigador principal (IP))
- DASILVA VILLANUEVA, NEREA (Miembro del equipo de trabajo)
- MACIAS RODRIGUEZ, JAVIER ALFONSO (Miembro del equipo de trabajo)
- LOPEZ DE CEBALLOS REGIFE, ALICIA (Miembro del equipo de trabajo)
- RICO GONZALEZ, ALBA (Miembro del equipo de trabajo)
- VALLEROTTO, GUIDO (Miembro del equipo de trabajo)
- Antón Hernández, Ignacio (Investigador principal (IP))
- DOMINGUEZ DOMINGUEZ, CESAR (Participante)
- HERRERO MARTIN, REBECA (Investigador principal (IP))
- NOGUEIRA DIAZ, EDUARDO (Participante)
Ejecución: 01-01-2020 - 31-12-2023
Tipo: Nacional
Importe financiado: 209886,50 Euros.
- iMarina
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Perfiles de investigador/a
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