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Perfil en el portal institucional

Nogueira Diaz, Eduardo eduardo.nogueira.diaz@upm.es

ELECTRÓNICA FÍSICA, INGENIERÍA ELÉCTRICA Y FÍSICA APLICADA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

Accelerated Life Test of high luminosity blue LEDs

  • Nogueira, E.
  • Orlando, V.
  • Ochoa, J.
  • Fernandez, A.
  • Vazquez, M.;

Microelectronics Reliability (p. 631-634) - 1/9/2016

10.1016/j.microrel.2016.07.021 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Accelerated life test of high luminosity AlGaInP LEDs

  • Nogueira, E.
  • Vazquez, M.
  • Mateos, J.;

Microelectronics Reliability (p. 1853-1858) - 1/9/2012

10.1016/j.microrel.2012.06.125 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Accelerated life testing in epoxy packaged high luminosity light emitting diodes

  • Nogueira E
  • Vzquez M
  • Algora C

Journal Of Electronic Packaging - 1/1/2011

10.1115/1.4004659 Ver en origen

  • ISSN 10437398

Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests

  • Nogueira E
  • Vázquez M
  • Núñez N

Microelectronics Reliability (p. 1240-1243) - 1/1/2009

10.1016/j.microrel.2009.06.031 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Lifetime of electret microphones by thermal degradation analysis via electroacoustic measurements

  • Nogueira, E.
  • Sancho Gil, Juan
  • Sanchez Bote, Jose Luis;

Microelectronics Reliability (p. 95-100) - 1/2/2018

10.1016/j.microrel.2017.12.018 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Este/a investigador/a no tiene libros.

Este/a investigador/a no tiene capítulos de libro.

Accelerated life testing leds on temperature and current

  • Nogueira E
  • Mateos J

9781424478637 - 12/5/2011

10.1109/sced.2011.5744191 Ver en origen

Accelerated life tests of lead free solder alloys in presence of distilled water

  • Nogueira, E
  • Fernandez, A
  • Florez, A
  • Alvarez Santos, R
  • Mino, E

Proceedings Of The 2013 Spanish Conference On Electron Devices (Cde 2013) (p. 249-251) - 8/4/2013

10.1109/cde.2013.6481389 Ver en origen

  • ISSN 21634971

Analysis of thermo-mechanical stress effects on CPV receiver under high intensity light cycles

  • HERRERO MARTIN, REBECA
  • NOGUEIRA DIAZ, EDUARDO
  • SALA PANO, Gabriel
  • CAÑIZO NADAL, CARLOS DEL
  • NUÑEZ JUDEZ, RUBEN
  • Antón Hernández, Ignacio

Wcpec-6 Technical Digest (p. 787-788) - 23/11/2014

  • iMarina

Degradation of AlInGaP red LEDs under drive current and temperature accelerated life tests

  • Vázquez M
  • Núñez N
  • Nogueira E
  • Borreguero A

Microelectronics Reliability (p. 1559-1562) - 1/1/2010

10.1016/j.microrel.2010.07.057 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Evaluation of device reliability based on accelerated tests

  • David Rodríguez
  • NOGUEIRA DIAZ, EDUARDO
  • Vazquez Lopez, Manuel

2009 Taylor & Francis Group, London (p. 899-904) - 1/1/2009

  • iMarina

Induced Thermo-Mechanical Stress In CPV Receivers With Cycled High Intensity Light

  • Perez, Valentin
  • Anton, Ignacio
  • Herrero, Rebeca
  • Nogueira, Eduardo
  • Nunez, Ruben
  • del Canizo, Carlos
  • Sala, Gabriel;
... Ver más Contraer

Aip Conference Proceedings (p. 254-258) - 1/1/2014

10.1063/1.4897073 Ver en origen

  • ISSN 15517616

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

Parqués ópticos de alta eficiencia y bajo coste fabricados mediante micro-impresión roll-to-roll para módulos de micro-concentración fotovoltaica y luminarias esbeltas

  • SAN JOSÉ GALLEGO, LUIS JAVIER (Miembro del equipo de trabajo)
  • GARCIA SANCHEZ, ALMUDENA (Miembro del equipo de trabajo)
  • DOMINGUEZ DOMINGUEZ, CESAR (Investigador principal (IP))
  • NOGUEIRA DIAZ, EDUARDO (Participante)
  • ALIA GARCIA, CRISTINA (Participante)
  • Antón Hernández, Ignacio (Participante)

Ejecución: 01-09-2022 - 31-08-2025

Tipo: Nacional

  • iMarina

Este/a investigador/a no tiene tesis dirigidas.

Este/a investigador/a no tiene patentes o licencias de software.

Última actualización de los datos: 8/04/24 9:15