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Perfil en el portal institucional

Vazquez Lopez, Manuel manuel.vazquez@upm.es

ELECTRÓNICA FÍSICA, INGENIERÍA ELÉCTRICA Y FÍSICA APLICADA / Universidad Politécnica de Madrid

Actividades

A Generalized Regression Methodology for Bivariate Heteroscedastic Data

  • Fernandez, Antonio
  • Vazquez, Manuel;

Communications In Statistics-Theory And Methods (p. 598-621) - 1/1/2011

10.1080/03610920903444011 Ver en origen

  • ISSN 1532415X

Accelerated Life Test of high luminosity blue LEDs

  • Nogueira, E.
  • Orlando, V.
  • Ochoa, J.
  • Fernandez, A.
  • Vazquez, M.;

Microelectronics Reliability (p. 631-634) - 1/9/2016

10.1016/j.microrel.2016.07.021 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Accelerated life test of high luminosity AlGaInP LEDs

  • Nogueira, E.
  • Vazquez, M.
  • Mateos, J.;

Microelectronics Reliability (p. 1853-1858) - 1/9/2012

10.1016/j.microrel.2012.06.125 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Accelerated life testing in epoxy packaged high luminosity light emitting diodes

  • Nogueira E
  • Vzquez M
  • Algora C

Journal Of Electronic Packaging - 1/1/2011

10.1115/1.4004659 Ver en origen

  • ISSN 10437398

Estimation of activation energy and reliability figures of space lattice-matched GaInP/Ga(In)As/Ge triple junction solar cells from Temperature Accelerated Life Tests

  • Nuñez, N
  • Vazquez, M
  • Barrutia, L
  • Bautista, J
  • Lombardero, I
  • Zamorano, JC
  • Hinojosa, M
  • Gabas, M
  • Algora, C
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Solar Energy Materials And Solar Cells - 1/1/2021

10.1016/j.solmat.2021.111211 Ver en origen

  • ISSN 09270248

Estimation of the reliability figures of space GaInP/Ga(In)As/Ge triple junction solar cells from very high temperature accelerated life tests with forward and reverse biasing

  • Nuñez, N
  • Vazquez, M
  • Martín, P
  • Bautista, J
  • Hinojosa, M
  • Algora, C

Solar Energy Materials And Solar Cells - 15/8/2023

10.1016/j.solmat.2023.112454 Ver en origen

  • ISSN 09270248

Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests

  • Nogueira E
  • Vázquez M
  • Núñez N

Microelectronics Reliability (p. 1240-1243) - 1/1/2009

10.1016/j.microrel.2009.06.031 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Evaluation of the reliability of high concentrator GaAs solar cells by means of temperature accelerated aging tests

  • Núñez N
  • González J
  • Vázquez M
  • Algora C
  • Espinet P

Progress In Photovoltaics (p. 1104-1113) - 1/8/2013

10.1002/pip.2212 Ver en origen

  • ISSN 10627995

Failure analysis on lattice matched GaInP/Ga(In)As/Ge commercial concentrator solar cells after temperature accelerated life tests

  • Orlando, V
  • Gabás, M
  • Galiana, B
  • Espinet-González, P
  • Palanco, S
  • Nuñez, N
  • Vázquez, M
  • Araki, K
  • Algora, C
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Progress In Photovoltaics (p. 97-112) - 1/1/2017

10.1002/pip.2818 Ver en origen

  • EISSN 1099-159X
  • ISSN 10627995

Functional analysis in long-term operation of high power UV-LEDS in continuous fluoro-sensing systems for hydrocarbon pollution

  • Arques-Orobon F
  • Nuñez N
  • Vazquez M
  • Gonzalez-Posadas V

Sensors - 26/2/2016

10.3390/s16030293 Ver en origen

  • ISSN 14248220

Este/a investigador/a no tiene libros.

Reliability

  • Algora C
  • Espinet-González P
  • Vazquez M
  • Bosco N
  • Miller D
  • Kurtz S
  • Rubio F
  • Mcconnell R
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Handbook Of Concentrator Photovoltaic Technology (p. 521-588) - 8/4/2016

10.1002/9781118755655.ch09 Ver en origen

A new model to assess the reliability of CPV modules in real time outdoor tests

  • J.R. González
  • Nuñez Mendoza, Neftali
  • Algora del Valle, Carlos
  • Vazquez Lopez, Manuel

Conference Record Of The Ieee Photovoltaic Specialists Conference (p. 000786-000790) - 1/12/2009

10.1109/pvsc.2009.5411168 Ver en origen

  • ISSN 01608371

ANALYSIS OF SUITABLE PWM TOPOLOGIES TO MEET VERY HIGH EFFICIENCY REQUIREMENTS FOR ON BOARD DC DC CONVERTERS IN FUTURE TELECOM SYSTEMS

  • De La Cruz E
  • Vazquez M
  • Rodriguez J

Intelec 93 - 15th International Telecommunications Energy Conference, Vol 2 (p. 207-214) - 1/1/1993

10.1109/intlec.1993.388572 Ver en origen

  • ISSN 02750473

Análisis de fiabilidad de componentes electrónicos basados en los modelos de degradación

  • Eduardo Nogueira
  • David Rodríguez
  • Vazquez Lopez, Manuel

28/11/2007

  • iMarina

Application of hybrid power systems of low power to the remote radio equipment telecommunication

  • Salas, V
  • Olias, E
  • Quinones, C
  • Vazquez, M
  • Rascon, M;

Ieee International Symposium On Industrial Electronics (p. 174-178) - 1/12/2000

  • iMarina

Case study in failure analysis of ALT on commercial triple junction concentrator solar cells

  • Mercedes Gabas
  • Kenji Araki
  • Beatriz Galiana
  • Nuñez Mendoza, Neftali
  • Algora del Valle, Carlos
  • Vazquez Lopez, Manuel

Case Study In Failure Analysis Of Alt On Commercial Triple Junction Concentrator Solar Cells (p. 1.666-1.671) - 16/6/2013

  • iMarina

Case study in failure analysis of accelerated life tests (ALT) on III-V commercial triple-junction concentrator solar cells

  • Espinet-González, P
  • Romero, R
  • Orlando, V
  • Gabás, M
  • Núñez, N
  • Vázquez, M
  • Palanco, S
  • Bijani, S
  • Contreras, Y
  • Galiana, B
  • Algora, C
  • Araki, K
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Conference Record Of The Ieee Photovoltaic Specialists Conference (p. 1666-1671) - 1/1/2013

10.1109/pvsc.2013.6744465 Ver en origen

  • ISSN 01608371

Degradation mechanism analysis in temperature stress tests on III-V ultra-high concentrator solar cells using a 3D distributed model

  • Espinet P
  • Algora C
  • González J
  • Núnez N
  • Vázquez M

Microelectronics Reliability (p. 1875-1879) - 1/1/2010

10.1016/j.microrel.2010.07.128 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Degradation of AlInGaP red LEDs under drive current and temperature accelerated life tests

  • Vázquez M
  • Núñez N
  • Nogueira E
  • Borreguero A

Microelectronics Reliability (p. 1559-1562) - 1/1/2010

10.1016/j.microrel.2010.07.057 Ver en origen

  • ISSN 00262714

Evaluation of device reliability based on accelerated tests

  • David Rodríguez
  • NOGUEIRA DIAZ, EDUARDO
  • Vazquez Lopez, Manuel

2009 Taylor & Francis Group, London (p. 899-904) - 1/1/2009

  • iMarina

Evaluation of the reliability of commercial concentrator triple-junction solar cells by means of Accelerated Life Tests (ALT)

  • Espinet-González P
  • Algora C
  • Núñez N
  • Orlando V
  • Vázquez M
  • Bautista J
  • Araki K
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Evaluation Of The Reliability Of Commercial Concentrator Triple-Junction Solar Cells By Means Of Accelerated Life Tests (Alt) (p. 222-225) - 15/4/2013

10.1063/1.4822236 Ver en origen

  • ISSN 15517616

Este/a investigador/a no tiene documentos de trabajo.

Este/a investigador/a no tiene informes técnicos.

REALIZACIÓN DE LOS CÁLCULOS DE LOS MTBF Y MTTR DE LOS EQUIPOS DE PROYECTO MOSKITO Y TXP-1000 BCA BASADOS EN MIL-HDBK-217F NOTICE E

  • Vazquez Lopez, Manuel (Investigador principal (IP))

Ejecución: 21-09-2011 - 21-11-2011

Tipo: Interno

  • iMarina

S35-IES-UPM. Materiales, dispositivos y tecnologías para el desarrollo de la industria fotovoltaica

  • DURAN RUPEREZ, INES (Investigador/a)
  • GARCIA-LINARES FONTES, PABLO (Investigador/a)
  • SANZ CUADRADO, CRISTINA (Participante)
  • ANOZ PIÑOL, SILVIA (Participante)
  • FUNES VECINO, MANUEL (Participante)
  • CATALAN GOMEZ, SERGIO (Participante)
  • LOPEZ ESTRADA, ESTHER (Participante)
  • Ramiro González, Iñigo (Participante)
  • MARTI VEGA, Antonio (Investigador principal (IP))
  • HONG, BO-KYUNG (Participante)
  • DATAS MEDINA, ALEJANDRO (Participante)
  • MARTINEZ GONZALEZ, MARIO (Participante)
  • BUENO BLANCO, CARLOS (Participante)
  • DASILVA VILLANUEVA, NEREA (Participante)
  • LOPEZ TORRES, IGNACIO (Participante)
  • TORRES LOPEZ, JUAN JOSE (Participante)
  • JIMENEZ PAGAN, ALBA (Participante)
  • ZEHENDER, MARIUS HARRY (Participante)
  • TABLERO CRESPO, César (Participante)
  • CAÑIZO NADAL, CARLOS DEL (Participante)
  • CRISTOBAL LÓPEZ, ANA BELEN (Participante)
  • SVATEK, SIMON AUREL (Participante)
  • Fuertes Marron, David (Participante)
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Ejecución: 01-01-2019 - 30-04-2023

Tipo: Regional

Importe financiado: 64165,40 Euros.

  • iMarina

Y2018/EMT-4892 - Telealimentación fotovoltaica por fibra óptica para medida y control en entornos extremos

  • Algora del Valle, Carlos (Investigador principal (IP))
  • García Vara, Iván (Participante)
  • Barrutia Poncela, Laura (Participante)
  • Nuñez Mendoza, Neftali (Participante)
  • GABAS PEREZ, MARIA MERCEDES (Participante)
  • Rey-Stolle Prado, Ignacio (Participante)
  • Caño Fernández, Pablo (Participante)
  • Bautista Villares, Jesus (Participante)
  • Hinojosa Arner, Manuel (Participante)
  • Lombardero Hernandez, Ivan (Participante)
  • Vazquez Lopez, Manuel (Participante)
  • GONZALEZ SANCHEZ, ALBERTO (Participante)
  • BARATA CARRELO, ISAAC AFONSO (Participante)
  • DELGADO ROMERO, MARINA (Participante)
  • Hou NA, Guojiao (Participante)
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Ejecución: 01-01-2019 - 30-06-2022

Tipo: Regional

Financiado por: CAM. CONSEJERÍA DE EDUCACIÓN E INVESTIGACION

Importe financiado: 453378,55 Euros.

Análisis de fiabilidad de leds de AlInGaP de alta eficiencia luminosa

  • Vazquez Lopez, Manuel (Director)
  • Nuñez Mendoza, Neftali (Director) Doctorando: Nogueira Díaz, Eduardo

1/10/2013

  • iMarina

Ensayos acelerados de fiabilidad de células solares de concentración

  • Vazquez Lopez, Manuel (Director) Doctorando: Nuñez Mendoza, Neftali

12/3/2012

  • iMarina

Técnicas avanzadas de regresión aplicadas a estudios de fiabilidad

  • Vazquez Lopez, Manuel (Director) Doctorando: Fernández Fernández, Antonio

20/12/2023

  • iMarina

DC/DC conversion circuit

  • Vazquez Lopez, Manuel (Autor o Coautor)
  • Cruz Moreno, Enrique (Autor o Coautor)
  • Rodriguez Perez, Julio (Autor o Coautor)

29/3/1994

  • iMarina
Última actualización de los datos: 8/04/24 9:07